AA54-LT-2型 單晶少子壽命測試儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京精測電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 AA54-LT-2型
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2016/8/29 22:09:19
- 訪問次數(shù) 364
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單晶少子壽命測試儀
產(chǎn)品介紹
AA54-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計,由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。
技術(shù)指標:
測試單晶電阻率范圍 | >2Ω.cm |
可測單晶少子壽命范圍 | 5μS~7000μS |
配備光源類型 | 波長:1.09μm;余輝<1 μS; |
閃光頻率為:20~30次/秒; | |
閃光頻率為:20~30次/秒; | |
高頻振蕩源 | 用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz |
前置放大器 | 放大倍數(shù)約25,頻寬2 Hz-1 MHz |
儀器測量重復(fù)誤差 | <±20% |
測量方式 | 采用對標準曲線讀數(shù)方式 |
儀器消耗功率 | <25W |
儀器工作條件 | 溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz |
可測單晶尺寸 | 斷面豎測:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm; |
縱向臥測:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm; | |
配用示波器 | 頻寬0—20MHz; |
電壓靈敏:10mV/cm; |