CMI900 二手牛津膜厚儀CMI900,二手牛津鍍層測厚儀CMI900
參考價 | ¥ 1600 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 深圳市維創(chuàng)興電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 CMI900
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2016/9/26 12:15:58
- 訪問次數(shù) 583
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代理牛津CMI500孔銅測厚儀、CMI165面銅測厚儀,CMI700孔面銅測厚儀,牛津ETP孔銅探頭,美國博曼X射線鍍層測厚儀,牛津鍍層厚度標準片,牛津膜厚儀標準片,國產(chǎn)線路板阻抗測試儀,milum MM610孔銅測試儀,Milum孔銅測厚儀探頭等產(chǎn)品。
二手牛津膜厚儀CMI900,二手牛津鍍層厚度測試儀CMI900,二手牛津CMI900,牛津X光管
凡事積之十年,則可成一學者。這話用在深圳市維創(chuàng)興電子科技有限公司的工程師身上,并不為過。自進入線路板檢測設備領域算起,深圳維創(chuàng)興科技工程師團隊已擁有10余年牛津鍍層測厚儀CMI900鍍層測厚儀以及CMI儀器、配件維修及銷售經(jīng)驗,為國內(nèi)數(shù)十家客戶提供線路板膜厚儀,PCB鍍層厚度測試儀的校正,更換配件及維修服務。公司有多名CMI900維修維護及CMI儀器的服務工程師,可以在24小時內(nèi)響應客戶的儀器維修維護難題。
公司同時擁有多臺二手牛津膜厚儀CMI900,二手牛津敦促鞥測厚儀CMI900,二手CMI900,可以客戶提供租賃和二手買賣服務。
二手牛津膜厚儀CMI900,二手牛津鍍層測厚儀CMI900,二手CMI900,CMI900校正維修,更換光管,購置鍍層標準片,膜厚儀標準片當然選深圳維創(chuàng)興科技!實力不俗,價格合理!
二手牛津膜厚儀CMI900,二手牛津鍍層測厚儀CMI900,二手CMI900介紹
利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質(zhì)量控制。
CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀(膜厚儀)是結(jié)構緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀CMI900系列提供:
無損分析:無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)認證的技術和可靠性
操作簡單,只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量,保證質(zhì)量的同時降低成本。
CMI900系列基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900主機的全面自動化控制。
產(chǎn)品優(yōu)勢:
高性能、高精度、*穩(wěn)定性
● 快速精確的分析帶來生產(chǎn)成本優(yōu)化
● 精確測定元素厚度
● 優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量
堅固耐用的設計
● 可靠近生產(chǎn)線或在實驗室操作
● 生產(chǎn)人員易于使用
簡單的校準調(diào)試
● 在沒有標準片時,經(jīng)驗系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結(jié)果
● 方法建立只需幾分鐘
● 我們提供認證標準片以確保準確度(A2LA 和 ISO/IEC17025)
● 預置了多種校準參數(shù)
可分析多種樣品形狀和尺寸
● 可分析多種樣品類型,從微小的電子元件到浴室配件
● 提供多種硬件供選配,滿足各種需要
行業(yè)及市場
電子行業(yè) - 有效控制生產(chǎn)過程,提高生產(chǎn)力
● 分析電子件上的金和鈀的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu
● 測量線路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
五金電鍍行業(yè) - 電鍍表面處理的成本降低,產(chǎn)量增大
● 多樣品和多點分析
● 單層或多層厚度測量
● 鍍液成份分析
貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析
● 黃金分析及其他元素測定
● 貴金屬合金檢測
*性檢測 - 確保產(chǎn)品符合規(guī)格
● 測定有害物質(zhì)從ppm級到高百分比級
● 有毒元素定量分析,例如檢測鎘、汞、鉛等含量是否符合規(guī)定
● 按照IEC62321進行RoHS篩選
● 對航空焊料可靠性鑒定進行高可靠檢測
新能源行業(yè) - 確保產(chǎn)品有效*
● 光電池薄膜吸收層(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析
● 通過鍍層厚度分析優(yōu)化導電性