Zeta-20 Zeta-20 臺式光學(xué)輪廓儀
- 公司名稱 北京億誠恒達(dá)科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Zeta-20
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2020/4/30 12:08:28
- 訪問次數(shù) 605
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萬能材料試驗(yàn)機(jī)，疲勞試驗(yàn)機(jī)，沖擊試驗(yàn)機(jī)，電化學(xué)工作站，恒電位/恒電流儀，石英晶體微天平，三維形貌儀，輪廓儀，原子力顯微鏡（AFM），掃描探針顯微鏡（SPM），摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)，瓶蓋扭矩測量儀，軸承扭矩測量儀，高頻疲勞試驗(yàn)機(jī)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,化工,石油 |
Zeta-20 臺式光學(xué)輪廓儀
主要功能
· 采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光學(xué)器件的簡單易用的光學(xué)輪廓儀，具有廣泛的應(yīng)用
· 可用于樣品復(fù)檢或缺陷檢測的高質(zhì)量顯微鏡
· ZDot：同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像
· ZXI：白光干涉測量技術(shù)，適用于z向分辨率高的廣域測量
· ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數(shù)據(jù)
· ZSI：剪切干涉測量技術(shù)提供z向高分辨率圖像
· ZFT：使用集成寬帶反射計(jì)測量膜厚度和反射率
· AOI：自動光學(xué)檢測，并對樣品上的缺陷進(jìn)行量化
· 生產(chǎn)能力：通過測序和圖案識別實(shí)現(xiàn)全自動測量
Zeta-20 臺式光學(xué)輪廓儀
主要應(yīng)用
· 臺階高度：納米到毫米級別的3D臺階高度
· 紋理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波紋度
· 外形：3D翹曲和形狀
· 應(yīng)力：2D薄膜應(yīng)力
· 薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度
· 缺陷檢測：捕獲大于1μm的缺陷
· 缺陷復(fù)檢：采用KLARF文件作為導(dǎo)航以測量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置
工業(yè)應(yīng)用
· 太陽能：光伏太陽能電池
· 半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體
· 半導(dǎo)體 WLCSP（晶圓級芯片級封裝）
· 半導(dǎo)體FOWLP（扇出晶圓級封裝）
· PCB和柔性PCB
· MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）
· 醫(yī)療設(shè)備和微流體設(shè)備
· 數(shù)據(jù)存儲
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