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          產(chǎn)品展廳

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          FE-300 膜厚量測(cè)儀

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
          • 品牌 OTSUKA/日本大冢
          • 型號(hào) FE-300
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
          • 更新時(shí)間 2020/8/6 11:26:50
          • 訪問(wèn)次數(shù) 1279

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                大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)·檢查。

            以高速·高精度·高可靠性且有市場(chǎng)實(shí)際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ), 在中國(guó)的顯示器 市場(chǎng)上有著20年以上銷售實(shí)例, 為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明 相關(guān)方面,對(duì)研究機(jī)構(gòu)、各個(gè)廠家的銷售量在逐步擴(kuò)大。

            在中國(guó)的蘇州有設(shè)立售后服務(wù)點(diǎn),為了能迅速且周到的為顧客服務(wù)而努力。

            我公司的母公司日本大塚電子集團(tuán),隸屬于大冢集團(tuán), 一直以來(lái)都謹(jǐn)守大冢集團(tuán) 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品),不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品,面向開展業(yè)務(wù),為社會(huì)作出貢獻(xiàn)。

           

          zeta電位?粒徑?分子量測(cè)量系統(tǒng),晶圓在線測(cè)厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測(cè)設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng),量子效率測(cè)量系統(tǒng)

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,電子,汽車,綜合

          產(chǎn)品信息

          特 長(zhǎng)

          薄膜到厚膜的測(cè)量范圍、UV~NIR光譜分析

          高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀

          藉由反射率光譜分析膜厚

          完整繼承FE-3000機(jī)種90%的強(qiáng)大功能

          無(wú)復(fù)雜設(shè)定,操作簡(jiǎn)單,短時(shí)間內(nèi)即可上手

          線性小平方法解析光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))

          測(cè)量項(xiàng)目

          • 反射率測(cè)量

          • 膜厚解析(10層)

          • 光學(xué)常數(shù)解析(n:折射率、k:消光系數(shù))

          產(chǎn)品規(guī)格

          樣品尺寸

          大8寸晶圓(厚度5mm)

          測(cè)量時(shí)間

          0.1s ~ 10s以內(nèi)

          量測(cè)口徑

          約φ3mm

          通訊界面

          USB

          尺寸重量

          280(W)× 570(D)×350(H)mm,約24kg

          軟體功能

          標(biāo)準(zhǔn)功能

          波峰波谷解析、FFT解析、適化法解析、小二乘法解析

          選配功能

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

           

          ※1 請(qǐng)于本公公司聯(lián)系聯(lián)系我們
          ※2 對(duì)比VLSI標(biāo)準(zhǔn)樣品(100nm SiO2/Si),范圍值同保證書所記載
          ※3 測(cè)量VLSI標(biāo)準(zhǔn)樣品(100nm SiO2/Si)同一點(diǎn)位時(shí)之重復(fù)再現(xiàn)性。(擴(kuò)充系數(shù)2.1)

          應(yīng)用范圍

          半導(dǎo)體晶圓膜(光阻、SOI、SiO2等)
          光學(xué)薄膜(OC膜、AR膜、ITO、IZO膜等)

          測(cè)量范例

          • PET基板上的DLC膜

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