高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱-可靠性設(shè)備制造商，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是集溫度濕度為一體的可靠性測(cè)試設(shè)備，主要檢測(cè)樣品在溫度濕度的沖擊下，樣品的性能是否還能保持著完好無損。

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱-可靠性設(shè)備制造商

技術(shù)參數(shù)

內(nèi)箱尺寸：1000*1200*1200mm（寬*高*深）

高溫范圍：150℃、180℃、200℃

低溫范圍：R系列：0℃   H系列：-20℃  Z系列：-40℃  P系列：-60℃  S系列：-70℃（可選）

濕度范圍：20%~98%（標(biāo)準(zhǔn)）   10%~98%（低濕、選配）

滿足和執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GJB150.3-2009高溫試驗(yàn)

GJB150.4-2009低溫試驗(yàn)

GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）;

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）；

GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 恒定濕熱試驗(yàn)（IEC 60068-2-78:2012,IDT）;

GB/T 2423.4-2008 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 交變濕熱（12h+12h循環(huán)（IEC 60068-2-30:2005,IDT）;

GB/T 2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化（IEC 60068-2-14:2009，IDT）；

GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.9-86 設(shè)備環(huán)境曬云方法 第8部分 濕熱試驗(yàn)。