customized 透射電鏡TEM
- 公司名稱(chēng) 深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 日本電子
- 型號(hào) customized
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/9/6 16:24:26
- 訪問(wèn)次數(shù) 909
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 冷場(chǎng)發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
一、產(chǎn)品概述：
透射電鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種高分辨率的顯微鏡，利用電子束穿透樣品以獲取其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和微觀特性的信息。TEM能夠提供納米級(jí)的分辨率，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域。
二、設(shè)備用途/原理：
·設(shè)備用途
TEM主要用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、相變及其他微觀特性。它在金屬、陶瓷、半導(dǎo)體及生物樣品的分析中發(fā)揮著重要作用，常用于材料的成分分析、晶體取向測(cè)定以及納米結(jié)構(gòu)的形貌觀察。
·工作原理
TEM的工作原理是通過(guò)加速電子束穿透極薄的樣品。電子束在樣品中與原子相互作用，產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。透過(guò)樣品的電子被收集并形成圖像。TEM通常配備多種成像模式，如明場(chǎng)、暗場(chǎng)和電子衍射，以提供樣品的不同信息。由于其高分辨率，TEM能夠揭示樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分，為科學(xué)研究和材料開(kāi)發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。
三、主要技術(shù)指標(biāo)：
1. 配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡
2. TEM分辨率 (nm)：0.14
3. 加速電壓：10 ～ 120kV
4. 倍率 （TEM）：×10～1,500,000
5. 樣品傾斜角：Tilt-X ±70°(高傾斜樣品桿)
6. 多樣品裝填數(shù)：4
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