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          產(chǎn)品展廳

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          半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 北京華測試驗(yàn)儀器有限公司
          • 品牌 HUACE/北京華測
          • 型號(hào)
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
          • 更新時(shí)間 2024/12/17 13:14:50
          • 訪問次數(shù) 712

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          創(chuàng)新:
          2024-10-10
          絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量。利用新穎的電阻測試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

            北京華測試驗(yàn)儀器有限公司( 簡稱: 華測儀器) 為高新技術(shù)企業(yè),專注于絕緣材料與功能新材料電性能檢測以及材料電學(xué)測控設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù),目前公司產(chǎn)品已應(yīng)用于全國二十多個(gè)省、市、自治區(qū)。
            公司有功能材料、電氣絕緣材料兩個(gè)電學(xué)試驗(yàn)室;涉及材料測試儀器、器件的放大、調(diào)理、采集、控制;傳感器性能綜合評(píng)價(jià)等相關(guān)儀器。

            產(chǎn)品系列:功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。



          功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。

          應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源,電子,汽車,綜合 設(shè)備型號(hào) SIR-450
          溫度范圍 -185 ~ 350 °C 控溫精度 0.5 °C
          升溫斜率 10°C/min(可設(shè)定) 電阻 1×10^16Ω
          電阻率 1×10^3 Ω ~ 1×10^16Ω 輸入電壓 220V
          樣品尺寸 φ<25mm,d<4mm 電極材料 黃銅或銀;
          夾具輔助材料 99氧化鋁陶瓷 絕緣材料 99氧化鋁陶瓷
          測試功能 高低溫電阻率 數(shù)據(jù)傳輸 RS-232
          設(shè)備尺寸 180 x 210 x 50mm


          半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)


          半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

          半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹:

          高低溫環(huán)境下的絕緣電阻測試技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場強(qiáng)度和高溫環(huán)境下。在這種情況下,高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負(fù)阻性的特征,電阻(率)隨著溫度的上升而下降,HTRB性能之間的相關(guān)性表明,隨著溫度的上升電阻率越下降嚴(yán)重,而HTRB性能越差,因此,材料的電阻率是HTRB失效測量的一個(gè)關(guān)鍵測量手段。關(guān)于環(huán)氧塑封料(EMC, Epoxy Molding Compound)高低溫測試技術(shù),已證明此測試方式是有效的,同時(shí)加速國產(chǎn)化IGBT、MOSFET等功率器件的研發(fā)。如無錫凱華、中科科化、飛凱材料等企業(yè)。


          設(shè)備優(yōu)勢:

          1、消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響

          在超高阻、弱信號(hào)測量過程中、輸入偏置電流和泄漏電流都會(huì)引起測量誤差。同時(shí)電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備,將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。以致影響弱信號(hào)的采集,華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及用新測試分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fA(10-15 A)的測量分辨率,從而滿足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測試需求。

          2、消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能 強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽

          自動(dòng)平均值是檢測電流的變化,并自動(dòng)將其進(jìn)行平均化的功能, 在查看測量結(jié)果的同時(shí)不需要改變設(shè)置。通過自動(dòng)排除充電電流的過渡響應(yīng)時(shí)或接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致偏差較大。電流輸入端口全新采用大口徑三軸連接器,是將內(nèi)部屏蔽連接至GUARD(COM)線,外部屏蔽連接至GROUND的3層同軸設(shè)計(jì)。兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時(shí)的安全性。

          3、采用測量前等待的方式,讓材料受熱均勻

          當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)定溫度后,樣品的均勻受熱會(huì)有一定的滯后現(xiàn)象,采用達(dá)到設(shè)備溫度保持時(shí)間,采用測量前等待的方式??梢宰尣牧鲜軣岣鶆颍瑴y量更加科學(xué)合理。

          4、強(qiáng)大的操作軟件

          測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ,基于labview系統(tǒng)開發(fā),符合功能材料的各項(xiàng)測試需求,具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。支持最新的國際標(biāo)準(zhǔn),兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。


          產(chǎn)品參數(shù):

          設(shè)備型號(hào)SIR-450

          溫度范圍-185 ~ 350 °C

          控溫精度0.5 °C

          升溫斜率10°C/min(可設(shè)定)

          電阻1×1016Ω

          電阻率1×103 Ω ~ 1×1016Ω

          輸入電壓220V

          樣品尺寸φ<25mm,d<4mm

          電極材料黃銅或銀;

          夾具輔助材料99氧化鋁陶瓷

          絕緣材料99氧化鋁陶瓷

          測試功能高低溫電阻率

          數(shù)據(jù)傳輸RS-232

          設(shè)備尺寸180 x 210 x 50mm



          半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

          半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

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