近場(chǎng)探頭EM5030LF
- 公司名稱 深圳市優(yōu)測(cè)科技有限公司
- 品牌 深圳知用
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 深圳
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/18 17:28:38
- 訪問(wèn)次數(shù) 26
聯(lián)系方式:柳先生17301946517 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
示波器,電流探頭,高壓差分探頭,EMI測(cè)試設(shè)備,光隔離探頭,頻譜儀,信號(hào)發(fā)生器,網(wǎng)絡(luò)分析儀,羅氏線圈,高壓探頭
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
---|
一、概述
EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個(gè)專門用來(lái)測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz,共4種探頭形狀;EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz,共3種探頭形狀。探頭通過(guò) 50Ω的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾,能夠檢測(cè)模塊之間的耦合通道以及評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)信號(hào)切換速率、RF 電壓等。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí),可以配合 EM5020A(20dB 增益)或者 EM5020B(30dB 增益)前置射頻射頻放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。
二、近場(chǎng)探頭EM5030LF規(guī)格表
三、近場(chǎng)探頭EM5030LF應(yīng)用
(1)EMI 輻射干擾源定位
(2)電磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)
四、操作方法
1、初步掃描: 使用近場(chǎng)探頭對(duì)EUT進(jìn)行初步掃描,覆蓋設(shè)備的各個(gè)區(qū)域。記錄下所有超出限制的頻點(diǎn)和信號(hào)強(qiáng)度,這一步有助于快速識(shí)別潛在的EMI問(wèn)題。
2、詳細(xì)測(cè)量: 對(duì)初步掃描中發(fā)現(xiàn)的異常頻點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)測(cè)量,調(diào)整RBW和VBW以獲得更高的頻率分辨率。逐步移動(dòng)探頭,并觀察頻譜儀上的信號(hào)變化,記錄每個(gè)頻點(diǎn)的峰值功率、電平和頻率。
3、定位干擾源: 通過(guò)逐步縮小探頭的掃描范圍,可以精確定位干擾源的位置。對(duì)于復(fù)雜電路板,可以利用電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭交替測(cè)量,以判斷干擾信號(hào)的性質(zhì)和源頭。
4、遠(yuǎn)近結(jié)合: 如果找到了一些明顯的干擾源,可以進(jìn)一步結(jié)合遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,以確認(rèn)這些干擾是否會(huì)傳導(dǎo)到設(shè)備外部,并最終影響到周圍環(huán)境。
五、其它型號(hào)
EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專門用來(lái)測(cè)試電場(chǎng)(E)的探頭,覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz,主要應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源,除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。