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銅上鍍銀無(wú)損鍍層測(cè)厚儀
銅上鍍銀無(wú)損鍍層測(cè)厚儀目的：
提供X-ray測(cè)厚儀的操作及方法，從而了解化學(xué)鍍層（金、鎳、錫、銀）的厚度情況。
銅上鍍銀無(wú)損鍍層測(cè)厚儀適用于本公司品質(zhì)部物理實(shí)驗(yàn)室X-ray測(cè)厚儀。
銅上鍍銀無(wú)損鍍層測(cè)厚儀Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測(cè)厚儀可用于測(cè)量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測(cè)量結(jié)果, zui小測(cè)量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測(cè)量范圍：0-35um;
其特點(diǎn)為：激光自動(dòng)對(duì)焦、全自動(dòng)XYZ樣片臺(tái)、簡(jiǎn)易自動(dòng)對(duì)位、具溫度補(bǔ)償功能、十字線自動(dòng)調(diào)整、可自行設(shè)計(jì)報(bào)告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格、五個(gè)可選準(zhǔn)直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測(cè)厚儀器的機(jī)型。測(cè)量精度：誤差控制在±5%.
型號(hào) | Type H | Type L | Type PCB |
主機(jī)箱大小 | 610W x 670D x 600H | 610W x 670D x 490H | 610W x 670D x 490H |
可測(cè)量樣品大小 | 550W x 550D x 100H | 550W x 550D x 30H | Infinity x 30H |
XYZ三軸移動(dòng)范圍 | 200W x 150D x 100H | 200W x 150D x 30H | 200W x 150D x 30H |
zui大負(fù)重 | 5kg | 5kg | 5kg |