單點開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
我們的單點開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數(shù)/費米能級進行非常高質(zhì)量的測量。
微探針系統(tǒng) 參考價：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測試設(shè)計的納米級微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場測試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺 參考價：面議
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺VAN DER WAALS是為半導(dǎo)體芯片不同材料在位置的堆積過程研究設(shè)計的范德瓦爾斯位移臺。
氣浮減震臺 參考價：面議
這款氣浮減震臺是專業(yè)為精密儀器減震設(shè)計的氣浮式隔振臺,采用氣浮減震支腿和蜂窩減震平臺以及人體防護扶手組成,廣泛用于原子顯微鏡減震隔振,掃描電鏡減震隔振等精密儀器...
高壓探針臂,高壓電流探針測試,probe arm 參考價：面議
這款高壓探針臂 probe arm也是大電流探針臂,可加持各種探針,滿足20KV和200A的高壓電流探針測試。
三軸探針臂,同軸探zhen臂,probe arm 參考價：面議
三軸探針臂,同軸探針臂是為探針測量專用三軸探針夾具,Triaxial probe arm.
開爾文探針系統(tǒng),功函數(shù),Kelvin Probe 參考價：面議
開爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學(xué)中,精確測量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉(zhuǎn)移和功函數(shù)變化中起著重要作用。
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