HAMEG 惠美 HZ530 有源近場(chǎng)探頭套件 Near-Field Probe Set

HZ 530 HZ-530

HZ530 探頭套件由用于 EMI 診斷的三個(gè)有源寬帶探頭組成。這些探頭可與輸入阻抗為50Ω的HAMEG頻譜分析儀相連。探頭可通過頻率分析儀或電池來供電。這些探頭具有細(xì)長(zhǎng)的外形，因此甚至在空間狹窄的測(cè)試環(huán)境中也可接觸到測(cè)試對(duì)象。
磁場(chǎng)探頭可提供一個(gè)與頻譜分析儀的磁場(chǎng)強(qiáng)度成正比的信號(hào)。這樣就可以很高的精度找到干擾源。
高阻抗探頭可用于確定觸點(diǎn)、線路和印刷電路板上的干擾電平。
電場(chǎng)探頭在這三種探頭中靈敏度zui高。它可用于評(píng)估被測(cè)設(shè)備中的總體屏蔽和濾波效果。

技術(shù)指標(biāo)（23°C±2°C時(shí)）