四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/方阻測(cè)試儀/方阻儀/四探針電阻率測(cè)定儀  型號(hào)：KDK-KDY-1

四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。
本儀器的點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另塊數(shù)字表（以分之幾的度）適時(shí)監(jiān)測(cè)程的電變化，免除了測(cè)量電/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電。主機(jī)還提供度為0.05%的恒源，使測(cè)量電度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒源開關(guān)，在測(cè)量某些箔層材料時(shí)，可免除探針尖與被測(cè)材料之間接觸火花的發(fā)生，地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的產(chǎn)品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測(cè)量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器，測(cè)量硅片時(shí)可自動(dòng)行厚度、直徑、探針間距的修正，并計(jì)算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的zui大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測(cè)量帶來很大方便。
2、主機(jī)能數(shù)
（1）測(cè)量范圍：
可測(cè)電阻率：0.0001～19000Ω•cm
可測(cè)方塊電阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒源：
輸出電：DC 0.001～100mA 五檔連續(xù)可調(diào)
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒度：各檔均低于±0.05%
（3）直數(shù)字電壓表：
測(cè)量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）
輸出電源：≥1000ΩM
（4）供電電源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 率：12W
（5）使用環(huán)境：
溫度：23±2℃ 相對(duì)濕度：≤65%
無(wú)較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾，無(wú)強(qiáng)光直接照射
（6）重量、體積：
主機(jī)重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長(zhǎng)度×寬度×度）

備注：
等測(cè)量時(shí)（測(cè)電阻率），度<3%
電氣測(cè)量時(shí)（測(cè)電阻），度在0.3%以內(nèi)

備注：
儀器包括：主機(jī)臺(tái)；測(cè)試架（包括臺(tái)面）個(gè)；四探針頭1個(gè)