EPOCH600 DACEPOCH600DAC曲線制作|上海如慶電子科技總經(jīng)銷
【簡單介紹】
【詳細說明】
EPOCH600DAC曲線制作|上海如慶電子科技總經(jīng)銷|奧林巴斯數(shù)字超聲波探傷儀優(yōu)惠價銷售!
動態(tài)DAC/TVG:對比DAC曲線或?qū)Ρ雀鶕?jù)時變增益確定的參考回波波幅,以百分比或以分貝水平計算信號波幅。DAC版本包括ASME、ASME 3、JIS和自定義。此外,還包括以下主要特性:動態(tài)可調(diào)DAC曲線、DAC和TVG視圖切換、自定義DAC報警曲線。
DGS/AVG:這是一種利用與特定類型探頭和材料相關(guān)的DGS/AVG圖形,評估回波信號的缺陷定量技術(shù)。DGS/AVG圖形表明回波高度、缺陷尺寸以及到探頭的距離這些參數(shù)之間的關(guān)系。
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曲面校正:在進行管材或棒材檢測,使用角度聲束探頭沿著曲面進行周向檢測時,曲面校正功能可校正聲程信息。
: : 953727603可選軟件特性
AWS D1.1和D1.5:為各種不同的AWS(美國焊接協(xié)會)焊縫檢測應(yīng)用提供一個動態(tài)反射體缺陷指示定級。這個功能省去了手工計算的步驟,從而提高了檢測效率。
底面回波衰減功能(BEA): 這個功能通過使用由閘門2定義的屏幕區(qū)域減弱被測工件的底面回波。底面回波衰減功能用于避免底面回波在屏幕上出現(xiàn)飽和狀態(tài),從而可使用戶對在底面前面產(chǎn)生的缺陷回波進行詳細觀察,同時又可以監(jiān)控底面回波逐漸消失的衰減過程。
API 5UE:可按照API建議的程序5UE進行缺陷定量。在OCTG管材的驗證過程中使用波幅距離差分技術(shù)(ADDT)測量潛在的缺陷尺寸。由于所有ADDT變量都采集于峰值記憶包絡(luò),因此測量過程既簡單又可重復(fù)。
波形平均:這個功能可利用一個實時A掃描圖像代表持續(xù)采集到的A掃描的平均值。在探測到靜態(tài)缺陷時,波形平均功能可改進信噪比。平均除數(shù)為2、4、8、16、32。
數(shù)據(jù)記錄與PC機連接
數(shù)據(jù)管理
EPOCH 600型儀器提供多種存儲、歸檔、報告檢測數(shù)據(jù)和校準數(shù)據(jù)的方法。儀器的機載存儲容量多達50000點。此外,移動存儲卡可為儀器增加2 GB的存儲量。儀器還與Olympus NDT的PC機接口程序GageView Pro*兼容??焖俚奈募O(shè)置功能和靈活的數(shù)據(jù)管理功能使得儀器對檢測數(shù)據(jù)的記錄及報告變得簡單有效。
GageView Pro
EPOCH 600型儀器與我公司的PC機接口程序GageView Pro*兼容。通過這個程序,檢測人員可下載檢測數(shù)據(jù),在PC機上回顧測量數(shù)值,將測量和校準數(shù)據(jù)導(dǎo)出到普通的電子數(shù)據(jù)表程序,備份儀器中的校準和檢測數(shù)據(jù),進行如儀器固件升級和屏幕捕獲等的基本操作。
數(shù)據(jù)記錄器
EPOCH 600型儀器有一個用于存儲校準文件和檢測文件的機載數(shù)據(jù)記錄器。儀器的標準配置有兩個主要文件類型:校準(CAL)類型文件和增量(INC)類型文件。CAL文件可以保存幾乎無限的參數(shù)設(shè)置。所保存的設(shè)置可被快速方便地調(diào)用到當(dāng)前設(shè)置。INC文件可在單一文件名稱下保存多組檢測數(shù)據(jù),檢測過程中可以下載和報告這些數(shù)據(jù)。
擴展的數(shù)據(jù)記錄器軟件選項增強了機載數(shù)據(jù)記錄器的性能:擁有腐蝕型數(shù)據(jù)記錄器文件的全部類型。這個選項包含以下數(shù)據(jù)文件類型:序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、鍋爐型、2-D EPRI型。
MicroSD: : 953727603
EPOCH 600型儀器使用2 GB MicroSD存儲卡作為機載和移動存儲設(shè)備。操作人員可以使用移動存儲設(shè)備,以位圖格式存儲屏幕圖像,用于制作報告,還可以.csv格式導(dǎo)出當(dāng)前的或保存的測量值和校準數(shù)據(jù)。第二個2 GB MicroSD卡安裝在儀器中的PC板上,用于所有機載數(shù)據(jù)的存儲。在儀器被損壞無法修復(fù)時,可到授權(quán)的服務(wù)中心將儀器中的MicroSD卡取出,從損壞的儀器中拯救出關(guān)鍵性的數(shù)據(jù)。
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