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| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,石油,建材,航天 |
是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況
產品簡介
詳細介紹
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。 CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。 CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。