日立高新技術(shù)於2013年1月18-19日參加并贊助了中國電子顯微鏡學(xué)會召開的“學(xué)會與廠家的聯(lián)誼會”。
在廠家的講演中,日立高新技術(shù)的應(yīng)用工程師—羅琴作了以“材料領(lǐng)域掃描電鏡的應(yīng)用”為題的報(bào)告。報(bào)告中羅琴主要向40位參會領(lǐng)導(dǎo)們介紹了日立zui高分辨率的SU9000和肖特基分析型SU70的應(yīng)用,以及沸石樣品拍照時(shí)無需作任何前處理而獲得的高分辨圖像,得到在場各位專家的高度評價(jià)。
日立高新技術(shù)預(yù)計(jì)今年在電鏡學(xué)會的會議上不僅要發(fā)表SEM,還要在本公司的有特色產(chǎn)品—環(huán)境TEM的宣傳方面傾注更多的力量。
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