高低溫沖擊測(cè)試箱特點(diǎn)

1.采用日制*彩色觸控LCD中/英文微電腦溫度控制器，操作簡(jiǎn)單易學(xué)。

2.采用*節(jié)能控制模式，自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控制耗能減少30%。

3.高程式記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存100組程式，大循環(huán)設(shè)定999cycles，每段時(shí)間大設(shè)定999Hrs59Mins。

4.具有RS-232C通信界面裝置，可與電腦聯(lián)線操控編輯記錄及10組動(dòng)態(tài)連接（TIMERSINGALRELAY），使用便捷，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2Zone或3Zone之功能。

5.具備全自動(dòng)，高精度系統(tǒng)，任一機(jī)件動(dòng)作，*由P.L七鎖定處理。

6.整機(jī)主要的配件均采用，大大提高設(shè)備整體性能及耐用性。

7.無(wú)紙式記錄功能，具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化曲線圖及記錄雙重功能。

8.高低溫沖擊移動(dòng)時(shí)間在10s內(nèi)完成，符合MIL，IEC，JIS等規(guī)范。

9.高低溫沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5min之內(nèi)，符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。

10.采用HFC不保制冷劑，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì)，降溫快效率高。

11.二箱移動(dòng)式高低沖擊，安全的氣壓驅(qū)動(dòng)測(cè)試試樣上下來(lái)回沖擊。

12.電子芯片IC，PCB，半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化試驗(yàn)。

13.高低溫液體槽內(nèi)采用強(qiáng)迫攪拌對(duì)流方式。

14.采用全身自動(dòng)上下左右位移方式將試樣籠移至高、低溫液體槽內(nèi)，反復(fù)沖擊。

15.熱煤油采用單一相同它體GARDEN D02TS于高低溫槽內(nèi)，降低經(jīng)常換液體之成本。

16.廠家供應(yīng)液體沖擊試驗(yàn)機(jī)，液體沖擊測(cè)試機(jī)配合現(xiàn)場(chǎng)需要：可選擇水冷或氣冷兩種冷卻方式。

高低溫沖擊測(cè)試箱技術(shù)性能

1.工作室容積：50L，100L，150L，200L，300L，500L，800L，1000L（可按要求定制尺寸）。

2.溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃；-55℃～150℃；-65℃～+150℃。

3.高溫室蓄能時(shí)間：常溫RT～+150℃≤25min。

4.低溫室蓄能時(shí)間：+20℃～-40℃≤60min；+20℃～-60℃≤70min；+20℃～-70℃≤80min。

5.降溫速率：0.7～1.5℃/min（特殊定制：快速溫變型5℃～20℃/min，線性/非線性）。

6.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃。

7.試驗(yàn)室溫度偏差：±≤2℃。

8.溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。

9.加熱器：鎳鉻合金電加熱器。

10.冷凝器：不銹鋼釬焊板式換熱器。

11.電源：AC380V（五線制）±5％。

12.設(shè)備的型號(hào)和規(guī)格如下：

公司主營(yíng)產(chǎn)品：液體式冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒濕恒濕試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、步入式溫濕交變?cè)囼?yàn)室、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)機(jī)、高溫老化房、快速溫變?cè)囼?yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱、紫外線耐候老化試驗(yàn)箱、氙燈耐候老化試驗(yàn)箱、耐寒折彎試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、換氣老化試驗(yàn)箱、恒溫鼓風(fēng)干燥試驗(yàn)箱、太陽(yáng)光伏組件試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)等可靠性試驗(yàn)設(shè)備以及定做非標(biāo)機(jī)型。