產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣,綜合 |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
冷熱沖擊試驗箱Thermal Shock Test概述
1.冷熱沖擊試驗箱是模擬周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(沖擊),應(yīng)用于半導(dǎo)體元器件、OLED、EVA、PCB、IC芯片、集成電路等作溫度快速變化條件下熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,是確認產(chǎn)品品質(zhì)的理想測試工具(可靠性試驗)。
2.控制系統(tǒng)優(yōu)勢:中英文菜單式人機對話操作方式,有開機自檢功能、溫度線性校正、自動停機、系統(tǒng)預(yù)約定時啟動功能;實現(xiàn)工業(yè)自動化,帶數(shù)據(jù)交互功能,能與客戶主機鏈接實現(xiàn)遠程監(jiān)控,了解設(shè)備運行狀態(tài),可以通過任何移動終端監(jiān)控。
冷熱沖擊試驗箱Thermal Shock Test性能
1.溫度沖擊范圍:-40℃~+150℃、-55℃~+150℃、-65℃~+150℃。(高溫可定制:+250℃)
2.高低溫區(qū)溫度范圍:
A.高溫蓄能區(qū):室溫~+165℃。
B.低溫蓄能區(qū):室溫~-55℃、室溫~-70℃、室溫~-80℃。
3.測試區(qū)溫度范圍:
A.高溫沖擊溫度范圍:+50℃~+150℃。
B.低溫沖擊溫度范圍:-10℃~-40℃、-10℃~-55℃、-10℃~-65℃。
4.溫度波動度:±0.5℃。
5.溫度均勻度:±2.0℃。
6.高溫區(qū)升溫時間:RT(室溫)~+165℃小于 35min(室溫在+10~+25℃時)。
7.低溫區(qū)降溫時間:RT(室溫)~-55℃小于 75min(室溫在+10~+25℃時)。
8.低溫沖擊溫度恢復(fù)和轉(zhuǎn)換時間:≤5min。(可定制溫變速率為:10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,線性與非線性溫變)
9.試驗測試溫度范圍:-40℃~+85℃;-40℃~+120℃;-55℃~+125℃;-65℃~+150℃。(按要求選擇)
10.高溫槽與低溫槽風(fēng)門切換時間:≤3S。
11.試品重量:≤8 KG。(可按需求定制)
12.整機噪聲:<75 dB。
13.使用電源:AC3∮5W 380V±10% ;50HZ。
14.總功率:15.5KW。
15.大工作電流:25.0A。
16.重量約:480KG。
17.在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定20分鐘后測定的性能。
18.溫度均勻度定義為:實驗機幾何中心點處(計量單位空間9點測溫法)。
19.設(shè)備制造標(biāo)準(zhǔn):GB/T10586-2006,GB/T10592-1989。
20.設(shè)備檢定標(biāo)準(zhǔn):GB/T5170.2-1996,GB/T5170.5-1996。
冷熱沖擊試驗箱測試條件
1.GB2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗B:高溫試驗方法。
2.GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。
3.GB/T2423.1-1989 低溫試驗方法。
4.GB/T2423.2-1989 高溫試驗方法。
5.GB/T2423.22-1989 溫度變化試驗。
6.GJB150.5-86 溫度沖擊試驗。
7.GJB360.7-87 溫度沖擊試驗。
8.GJB367.2-87 405 溫度沖擊試驗。
9.國軍標(biāo) GJB150.3-2009/GJB150.4-2009。
10.MIT-STD-883E Method 1011.9。
11.JESD22-B106。
12.EIAJED- 4701-B-141。