溫度變化速率5℃～25℃/min快速溫變試驗箱用途

快速溫變箱是用于考察飛機發(fā)電機單元、航空電子設(shè)備單元、艦載計算機單元、機載計算機單元、慣導(dǎo)裝置單元、接收系統(tǒng)單元、控制指示器單元、接收發(fā)射機模塊等在研發(fā)階段轉(zhuǎn)向批量生產(chǎn)階段過程中，運用溫度循環(huán)和隨機振動外在加速技術(shù)來提前暴露潛存于產(chǎn)品中的瑕庇浮現(xiàn)，將浴盆曲線中的早夭失效期階段的產(chǎn)品予以檢修剔除或報廢，避免使用過程中受環(huán)境應(yīng)力的作而失效，對提高可靠度有顯著效果。

溫度變化速率5℃～25℃/min快速溫變試驗箱技術(shù)參數(shù)

1.工作室容積：150L，225L，408L，500L，800L，1000L。（可定制非標(biāo)機型）

2.溫度范圍：-70℃～+150℃。

3.濕度范圍：20%～98%RH；10%～98%RH；5%～98%RH。（選購模塊）

4.溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（選購：線性與非線性）

5.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

6.溫度波動度：±0.5℃。

7.溫度均勻度：±2.0℃。

8.濕度波動度：±1.0%RH。

9.濕度均勻度：±3%RH。

10.溫/濕度值偏差：≤±2.0℃/3%RH。

11.電源：AC380V（五線制）±5%。

11.制冷系統(tǒng)：*壓縮機低噪音模塊化二元復(fù)疊熱交換設(shè)計水冷式制冷機組。

12.加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，空氣式控溫。

13.節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。

14.保護裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護、漏電保護、內(nèi)箱超溫保護、加熱管空焚保護。

15.快速溫度變化試驗箱標(biāo)準(zhǔn)型號及規(guī)格選擇如下，可按需求非標(biāo)定制。

 型 號        內(nèi)箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-500L    W800×H900×D700     W1100×H2100×D1450

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

溫度變化速率5℃～25℃/min快速溫變箱特點

1.快速溫變試驗箱經(jīng)提取歐美及日本設(shè)計與制造工藝?yán)砟?，采用前沿的制冷控制模式，可使輸出功率?%～100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷量，較傳統(tǒng)平衡調(diào)溫調(diào)濕模式耗能減少30%。制冷系統(tǒng)為*壓縮機低噪音模塊化二元復(fù)疊熱交換水冷式機組設(shè)計，可使溫度循環(huán)按線性與非線性快速溫變，同時可實現(xiàn)溫變速率5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min等可靠性條件。

2.可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制（選購加裝濕度模塊），具備高低溫快速溫變（溫度循環(huán)應(yīng)力篩選）、高溫高濕試驗、冷熱循環(huán)試驗、濕熱交變試驗、恒溫恒濕試驗、結(jié)露試驗等多種可靠性測試。滿足不同用戶對多種產(chǎn)品存在的缺陷和失效得到提前暴露和發(fā)現(xiàn)。

3.制冷及電控、溫控系統(tǒng)關(guān)鍵配件均采用，每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保設(shè)備運行期間高可靠性，使設(shè)備的綜合性能得到*釋放提升。

4.USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足用戶多種需要，實現(xiàn)運行數(shù)據(jù)交換功能，能與用戶主機連接進(jìn)行遠(yuǎn)程操控，實時了解設(shè)備運行狀況，可通過任何移動終端監(jiān)控。

溫度快速變化試驗箱作用

1.在研發(fā)階段協(xié)助早期發(fā)現(xiàn)設(shè)計問題，提高設(shè)計可靠度，縮短研發(fā)進(jìn)程。

2.提早剔除早夭期失效，即降低使用時的失效率，提高M(jìn)TBF或可靠度，增強使用者的信心。

3.發(fā)掘生產(chǎn)人員不熟練或疏忽所造成的工藝不良，確認(rèn)具有潛伏性缺陷的零組件。

4.降低較高產(chǎn)品組合層次失效維修或報廢的概率，減低延誤、節(jié)省產(chǎn)品制造和維修整體成本。

5.經(jīng)過應(yīng)力篩選ESS的產(chǎn)品在顧客手中使用時的失效率較低，這可提高顧客對公司產(chǎn)品的信心及依賴，這是一種無形卻非常重要的效益。

快速溫度循環(huán)試驗箱參考標(biāo)準(zhǔn)

1.MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選。

2.MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法。

3.NABMAT-9492 美軍海軍制造篩選。

4.GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南。

5.GJB 1032-90 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法。

6.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。

7.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

8.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗。

9.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

10.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

11.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫。

12.GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。

13.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱。

14.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗N：溫度變化試驗。

15.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗。