產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,制藥,電氣 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
溫度濕度高低溫低氣壓海拔高度試驗(yàn)箱概述
1.低氣壓(高度)試驗(yàn)箱通過(guò)參考GJB150.2A-2009 低氣壓(高度)試驗(yàn)方法,應(yīng)用于對(duì)整機(jī)產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫,濕度、高度(不高于海拔30000米)綜合試驗(yàn)以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)。模擬高海拔、高空、高原地區(qū)氣候環(huán)境進(jìn)行貯存運(yùn)用、運(yùn)輸時(shí)的可靠性試驗(yàn)。
2.控制系統(tǒng)優(yōu)勢(shì):中英文菜單式人機(jī)對(duì)話操作方式,有開(kāi)機(jī)自檢功能、溫度線性校正、自動(dòng)停機(jī)、系統(tǒng)預(yù)約定時(shí)啟動(dòng)功能;實(shí)現(xiàn)工業(yè)自動(dòng)化,帶數(shù)據(jù)交互功能,能與客戶主機(jī)鏈接實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)控,了解設(shè)備運(yùn)行狀態(tài),可以通過(guò)任何移動(dòng)終端監(jiān)控。
溫度濕度高低溫低氣壓海拔高度試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍:-70℃~+180℃。
2.濕度范圍:20%~98%R.H。(選購(gòu):5%~98%R.H或10%~98%R.H,溫濕度同步線性測(cè)試。)
3.壓力范圍:常壓~1KPa;常壓~0.5KPa(箱內(nèi)干燥時(shí))。
4.設(shè)備可模擬高度2438m(對(duì)應(yīng)大氣壓為75.2KPa)、高度4570m(對(duì)應(yīng)大氣壓為57KPa)、高度12192m(對(duì)應(yīng)大氣壓為18.8KPa)等測(cè)試點(diǎn)試驗(yàn)要求。(試驗(yàn)高度可按要求定制)
5.氣壓偏差:±2KPa(常壓~40KPa時(shí));±5%(40KPa~4KPa時(shí));±0.1KPa(4KPa~1KPa時(shí))。
6.溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃(常壓空載)。
7.溫度均勻度:≤2.0℃(常壓空載)。
8.溫度偏差:≤±2.0℃(常壓空載)。
9.濕度均勻度:±1.0%R.H(常壓空載)。
10.相對(duì)濕度偏差:≤±3.0%R.H時(shí),濕度>75%R.H;≤±5.0%R.H時(shí),濕度≤75%R.H(常壓空載)。
11.降壓速率:常壓→1KPa≤45min。
12.升溫速率:3℃~4℃/min平均值。(選購(gòu)溫變速率為:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,線性與非線性溫變。)
13.降溫速率:0.7℃~1℃/min平均值。(選購(gòu)溫變速率為:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,線性與非線性溫變。)
14.制冷系統(tǒng):*壓縮機(jī)及模塊化機(jī)組設(shè)計(jì),方便日常維護(hù)與保養(yǎng)。
15.制冷方式:水冷式模塊化低噪音設(shè)計(jì)機(jī)械壓縮二元復(fù)疊制冷。
16.加熱系統(tǒng):進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐熱、耐寒加熱管,加熱空氣式控溫。
17.節(jié)能方式:冷端PID調(diào)節(jié)(即加熱不制冷,制冷不加熱),比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。
18.標(biāo)準(zhǔn)配置:觀測(cè)窗一個(gè);LED視窗燈一支;保險(xiǎn)管2支;物料架2套。
19.前端空氣經(jīng)干燥過(guò)濾器處理,產(chǎn)品測(cè)試區(qū)及附近無(wú)明顯結(jié)露現(xiàn)象。設(shè)備可以連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)不需進(jìn)行除霜。
20.保護(hù)裝置:壓縮機(jī)過(guò)載過(guò)流、超壓保護(hù)、漏電保護(hù)、內(nèi)箱超溫保護(hù)、加熱管空焚保護(hù)、缺水保護(hù)、真空泵故障報(bào)警。
21.電源:AC380V/50HZ三相四線+接地線。
22.低氣壓驗(yàn)箱可供選擇的型號(hào)及規(guī)格如下:
型 號(hào) 內(nèi)箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm)
ZK-KPA-252L W600×H700×D600 W1000×H1880×D1800
ZK-KPA-500L W800×H900×D700 W1500×H1900×D2750
ZK-KPA-1000L W1000×H1000×D1000 W1400×H2000×D3250
ZK-KPA-2000L W1200×H1500×D1200 W1810×H2310×D3710
根據(jù)客戶需求非標(biāo)定制......
低氣壓(高度)試驗(yàn)箱參考標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
2.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
3.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫。
4.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫。
5.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)。
6.GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化。
7.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。
8.GJB 150.2A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分:低氣壓(高度)試驗(yàn)。
9.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)。
10.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)。
11.GJB 150.6-1986 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度-高度試驗(yàn)。
12.GJB 150.19-1986 溫度-濕度-高度試驗(yàn)。
13.GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD 低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)。