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當(dāng)前位置：廣東正業(yè)科技股份有限公司>>PCB儀器裝備>>菲希爾測(cè)厚儀>> X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD
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產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地
更新時(shí)間：2023-10-18 16:07:15瀏覽次數(shù)：680次
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X射線鍍層測(cè)厚儀XDLM-PCB200/210/220
X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD
1.分析超薄鍍層，如：厚度≤0.1um的Au和Pa鍍層；
2.印刷線路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；
3.黃金成分分析
4.測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；
5.分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；
6.全自動(dòng)測(cè)量，如：用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。
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