反應(yīng)離子刻蝕機(jī) 參考價(jià)：面議
反應(yīng)離子刻蝕機(jī)我們的等離子蝕刻設(shè)備包括用功能強(qiáng)大的用戶(hù)友好軟件與模擬圖形用戶(hù)界面，參數(shù)窗口，工藝窗口，數(shù)據(jù)記錄和用戶(hù)管理。
英國(guó)光柵刻蝕 參考價(jià)：面議
英國(guó)光柵刻蝕三螺旋平行板天線(PTSA)等離子源是SENTECH等離子體工藝設(shè)備的屬性。PTSA源能生成具有高離子密度和低離子能量的均勻等離子體。它具有高耦合效...
ZEISS掃描顯微鏡 參考價(jià)：面議
ZEISS掃描顯微鏡系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶(hù)界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶(hù)以及新用戶(hù)。無(wú)論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行...
雙束電鏡 參考價(jià)：面議
雙束電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開(kāi)啟您對(duì)新維度的探索?，F(xiàn)如今,在MultiSEM出色的圖像采集速度推動(dòng)下,您終于能夠以納米級(jí)的圖像分辨率對(duì)大型樣品進(jìn)行...
掃描電鏡 參考價(jià)：面議
掃描電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺(tái)適用于日常檢測(cè)與研究應(yīng)用，高可用性：EVO配備的兩種用戶(hù)界面(SmartSEMTouch和SmartSEM)...
雙束掃描電鏡 參考價(jià)：面議
雙束掃描電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開(kāi)啟您對(duì)新維度的探索?，F(xiàn)如今,在MultiSEM出色的圖像采集速度推動(dòng)下,您終于能夠以納米級(jí)的圖像分辨率對(duì)大型樣品...
3D掃描電鏡 參考價(jià)：面議
蔡司3D掃描電鏡是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。
日本傾斜角刻蝕 參考價(jià)：面議
日本傾斜角刻蝕代表了直接置片等離子刻蝕機(jī)家族，它結(jié)合了RIE的平行板電極設(shè)計(jì)和直接置片的成本效益設(shè)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)。Etchlab200的特征是簡(jiǎn)單和快速的樣品加載，從...
SENTECH二維材料刻蝕 參考價(jià)：面議
SENTECH二維材料刻蝕能夠在低溫100°C下高均勻度和高保形性地覆蓋敏感襯底和膜層，在樣品表面提供高通量的反應(yīng)性氣體，而不受紫外線輻射或離子轟擊。
德國(guó)電子束曝光 參考價(jià)：面議
德國(guó)電子束曝光主要功能：曝光速度快精度高，可采用大寫(xiě)場(chǎng)大束流進(jìn)行曝光，適用于科研及小批量生產(chǎn)中使用；自動(dòng)化程度高，除了放樣取樣外，整個(gè)曝光過(guò)程只需要編輯曝光的相...
國(guó)產(chǎn)電子束光刻 參考價(jià)：面議
國(guó)產(chǎn)電子束光刻主要功能：曝光速度快精度高，可采用大寫(xiě)場(chǎng)大束流進(jìn)行曝光，適用于科研及小批量生產(chǎn)中使用；自動(dòng)化程度高，除了放樣取樣外，整個(gè)曝光過(guò)程只需要編輯曝光的相...
進(jìn)口深硅刻蝕 參考價(jià)：面議
進(jìn)口深硅刻蝕：三螺旋平行板天線(PTSA)等離子源是SENTECH等離子體工藝設(shè)備的屬性。PTSA源能生成具有高離子密度和低離子能量的均勻等離子體。它具有高耦合...
靈活的自動(dòng)掃描系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
靈活的自動(dòng)掃描系統(tǒng)低成本桌面式壽命測(cè)量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動(dòng)操作Z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的...
靈活的自動(dòng)掃描系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
靈活的自動(dòng)掃描系統(tǒng)MDPmap設(shè)計(jì)用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)、測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息等參數(shù)的小型臺(tái)式無(wú)觸點(diǎn)電特性測(cè)量?jī)x器，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)下(μ...
激光掃描系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
激光掃描系統(tǒng)該儀器被設(shè)計(jì)用于工藝和材料的質(zhì)量監(jiān)控，例如單晶或多晶硅。多晶硅磚切割標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)輸出。能夠根據(jù)爐子的輸出質(zhì)量進(jìn)行單獨(dú)的爐子監(jiān)控進(jìn)行優(yōu)化和決定投資。MD...
在線壽命和電阻率掃描儀 參考價(jià)：面議
在線壽命和電阻率掃描儀電池生產(chǎn)線的進(jìn)料質(zhì)量調(diào)查是常見(jiàn)的應(yīng)用案例，以及在鈍化和擴(kuò)散之后的工藝質(zhì)量檢查，在許多其他的專(zhuān)業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域也有很大的可能性。只需要集成以太網(wǎng)連...
快速自動(dòng)掃描系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
快速自動(dòng)掃描系統(tǒng)MDPinline ingot系統(tǒng)是可用于多晶硅電氣特性的快的測(cè)量工具。它被設(shè)計(jì)用于高產(chǎn)量生制造工廠的研究用途。每塊磚都可以在不到兩分鐘的時(shí)間里...
少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
少子壽命測(cè)試儀MDPinline是一個(gè)用于定量測(cè)量少子壽命的緊湊型高速生產(chǎn)集成自動(dòng)掃描系統(tǒng)。當(dāng)晶片通過(guò)傳送裝置移動(dòng)到儀器下面時(shí)，一片晶片的形貌測(cè)量在一秒鐘的時(shí)間...
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)RT inline 薄膜測(cè)量系統(tǒng)是為沉積過(guò)程的在線質(zhì)量控制而設(shè)計(jì)的。該方法基于SENTECH著名的薄膜厚度探針FTPadv，用于測(cè)量...
自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器 參考價(jià)：面議
自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器SenSol自動(dòng)掃描儀器設(shè)計(jì)用于玻璃薄膜光伏制造中薄膜性能的質(zhì)量控制的在線測(cè)量。大量的傳感器可以集成到SenSol傳感器平臺(tái)中。這也允許特定...
激光橢偏儀 參考價(jià)：面議
激光橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽(yáng)能電池防反射膜的理想工具?？梢詼y(cè)量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/...
激光橢偏儀 參考價(jià)：面議
激光橢偏儀多角度SE 400adv PV在632.8nm的氦氖激光波長(zhǎng)下，在紋理化的單晶和多晶硅片上提供防反射單膜的膜厚和折射率?？筛鼡Q的晶片載片器允許對(duì)多晶晶...
晶體硅太陽(yáng)電池 參考價(jià)：面議
晶體硅太陽(yáng)電池SENperc PV是為PERC太陽(yáng)能電池制造質(zhì)量控制而設(shè)計(jì)的。它測(cè)量SiO2、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜，這些單層膜和疊層膜用于PERC...
綜合薄膜測(cè)量軟件 參考價(jià)：面議
綜合薄膜測(cè)量軟件集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學(xué)特性。利用快速擬合算法，通過(guò)改變模型參數(shù)將計(jì)算得到的光譜調(diào)整到實(shí)測(cè)光譜。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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