布魯克的ELEXSYS E580特點(diǎn):
以FT-EPR和電子自旋回波技術(shù)作為EPR譜和電子自旋弛豫時(shí)間(T1和T2)的基本檢測器。
ESEEM和2D-HYSCORE,通過電子和核自旋之間的超精細(xì)相互作用測量自旋密度分布和距離。
脈沖-ENDOR測量超細(xì)相互作用和核自旋松弛。
脈沖-ELDOR和DEER通過電子-電子自旋二極性耦合來測量遠(yuǎn)距離
用SECSY和EXSY衡量相關(guān)性和匯率。
激光引發(fā)的實(shí)驗(yàn),研究化學(xué)反應(yīng)和三態(tài)。
脈沖EPR 已經(jīng)發(fā)展成為一種成熟的順磁性物質(zhì)研究工具。從一開始,布魯克就通過1987年推出的ESP 380為商用脈沖EPR 儀器樹立了里程碑。 下一個(gè)里程碑是ELEXSYS E580 的后續(xù)型號,以及新型高速數(shù)字設(shè)備PatternJet 和SpecJet。這樣可以在不受硬件限制的情況下,以自旋松弛的速度對FID和回波進(jìn)行平均。
波譜儀的另一個(gè)基石——探頭,多年來一直是研發(fā)的重點(diǎn)。這就是傳奇的Flexline 探頭系列。
ELEXSYS E 580 FT/CW X 波段波譜儀也是多頻擴(kuò)展的平臺。在X 波段光譜儀的基礎(chǔ)上,可進(jìn)行W 波段(E 680)、Q 波段(SuperQ-FT)、S 波段、(SuperS-FT)和L 波段(SuperL-FT)的頻率轉(zhuǎn)換。設(shè)計(jì)理念使X 波段的所有特征都能在雙波段波譜儀中轉(zhuǎn)化為附加頻率。