安科瑞 鮑靜君
因為低溫幾乎對所有的產(chǎn)品材料都有不利的影響。對于暴露于低溫環(huán)境的產(chǎn)品或裝備,由于低溫會改變其組成材料的物理特性,因此可能會對其工作性能造成暫時損害。
低溫試驗僅限于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。
方法標(biāo)準(zhǔn):
●GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫》
●IEC 60068-2-1《Environmental testing-Part2-1:Tests-Test A:Cold》
試驗?zāi)芰Ψ秶?/span>
溫度范圍: -50℃~+200℃
溫度均勻度: ≤2℃
濕度范圍: 0%~100%R.H.
濕度誤差: +2/-3%R.H.
樣品室尺寸:W50×D60×H75(cm)
應(yīng)用領(lǐng)域:
信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.
汽車電子產(chǎn)品.電動玩具產(chǎn)品.