IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價:面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode(小電流器件)進行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫...IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng) 參考價:面議
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方...