目錄:深圳市新瑪科技有限公司>>自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)>>功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)>> QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)
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更新時(shí)間：2024-01-29 20:31:27瀏覽次數(shù)：991評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,電氣 |
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QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)
實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程，滿足不同器件測(cè)試對(duì)測(cè)試機(jī)的要求。
本產(chǎn)品為IGBT、SiC等功率半導(dǎo)體器件提供全套功率測(cè)試解決方案，可高效實(shí)現(xiàn)從晶圓級(jí)到最終產(chǎn)品的ISO、DC、AC等全套測(cè)試，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程，并配置豐富的測(cè)試接口和功能模塊選擇，滿足不同器件測(cè)試對(duì)測(cè)試機(jī)的要求。
QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)產(chǎn)品特點(diǎn)
01測(cè)試范圍
AC測(cè)試：1500V/4000A，DC測(cè)試：2000V/2000A
02測(cè)試功能
接觸可靠性測(cè)試、ISO測(cè)試、DC測(cè)試、AC測(cè)試等
03測(cè)試對(duì)象
SiC/IGBT 晶圓、芯片、單管、模塊，針對(duì)不同封裝定制測(cè)試治具
04測(cè)試過(guò)程
全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)表
05回路雜感
<15nH，不含待測(cè)對(duì)象及socket
06保護(hù)功能
過(guò)流保護(hù)閾值可設(shè)置，保護(hù)時(shí)間<2us
07測(cè)試效率
UPH>200，具體依據(jù)實(shí)際測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目確定
08測(cè)試流程
可根據(jù)具體要求對(duì)測(cè)試功能模塊進(jìn)行選擇和測(cè)試流程變更
09運(yùn)行模式
可根據(jù)不同測(cè)試要求選擇各功能并行或者異步模式運(yùn)行
供電電源電壓220V±10%(單相+PE)，50Hz±10%，10kW
測(cè)試對(duì)象SiC/IGBT 晶圓、芯片、單管、模塊
測(cè)試項(xiàng)Kelvin，ISO，SW，SC，Qg，DC，RgCg ，UIS等
AC測(cè)試最大電壓電流1500V，多脈沖 4000A，短路12000A@10us
DC測(cè)試最大電壓電流2000V，2000A
UIS測(cè)試最大電壓電流3000V，200A
RgCg測(cè)試電壓Vds：1500Vmax，Vgs ：±40V
AC測(cè)試雜感＜15nH，不包含被測(cè)器件及socket
AC測(cè)試過(guò)流保護(hù)＜2us
測(cè)試效率UPH>200，具體依據(jù)實(shí)際測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目確定
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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