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當(dāng)前位置:北京恒奧德科技有限公司>>行業(yè)專用儀器>>專用儀器儀表>> HN-JWG-III微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀
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更新時間:2021-09-13 14:26:06瀏覽次數(shù):717次
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微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀/微機(jī)塞曼效應(yīng)儀 型號:HN-JWG-III
產(chǎn)品介紹: |
塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)是大學(xué)物理中的一個實(shí)驗(yàn),許多院校都正在開設(shè)或準(zhǔn)備開設(shè)。以往塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的觀測方法各有缺陷,因此我們重新了塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的光學(xué)部件和光路,采用了CCD攝像頭和圖像采集卡與微機(jī)相連,構(gòu)成微機(jī)化塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀,不僅克服了以往實(shí)驗(yàn)方法的缺點(diǎn),而且干涉條紋清晰、明亮、對比度好、噪聲低,大大提高了實(shí)驗(yàn)的可觀測性和操作的方便程度。 本儀器為塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的更新?lián)Q代產(chǎn)品,它利用光電機(jī)的一機(jī)化與計(jì)算機(jī),提高塞曼實(shí)驗(yàn)儀的現(xiàn)代化程度。由于采用的高靈敏度及高分辨率的CCD圖像傳感器,既可把塞曼效應(yīng)的干涉圖像在監(jiān)視器屏幕上顯示,又可通過圖像卡數(shù)字化進(jìn)入微機(jī),在顯示器上顯示圖像,通過精心編制的塞曼效應(yīng)分析軟件可從屏幕上測量干涉條紋直徑,進(jìn)而求出電子荷質(zhì)比和實(shí)驗(yàn)誤差,而且還可將結(jié)果及圖像輸出打印。 本儀器特點(diǎn): 1、可實(shí)現(xiàn)塞曼效應(yīng)的干涉圖樣的快速采集與分析,節(jié)約實(shí)驗(yàn)時間。 2、直觀性好、可靠性好,圖像明亮清晰反差大,不用在暗室內(nèi)工作。 3、儀器調(diào)節(jié)方便、簡捷、工作量小、減少了該實(shí)驗(yàn)的難度。 4、消耗材料少,節(jié)約實(shí)驗(yàn)費(fèi)用。 5、易于控制,便于自動化處理。 6、也可做縱向塞曼效應(yīng)的觀察。 7、本儀器的磁場裝置為*磁鐵,磁場強(qiáng)度高、體積小、重量輕,便于工作攜帶。 |
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