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美國國家航空和宇宙航行局（NASA）采用產(chǎn)品

IEC61340-2-1標準規(guī)范的模板設備

可以測試固體，粉體，液體材料的靜電衰減時間

同時測試靜電衰減時間和電容負載

可直接放置在成型材料上測試

量程：10毫秒-99小時

分辨率：10毫秒

電暈放電電壓：0-9.9KV（可以選擇正負極性）

衰減比例：可設置1%-99%

同時測量環(huán)境溫濕度

特別設計氣閘效應，消除殘留空氣離子干擾

高精度靜電壓測試探頭

配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量，并計算出電容負載

配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期

配套JCI-Graph軟件遠端控制儀器，顯示數(shù)據(jù)和衰減曲線，形成報告，分析/打印/儲存數(shù)據(jù)。