X-4顯微熔點(diǎn)測定儀可廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、化工紡織、橡膠、制藥等方面的生產(chǎn)化驗(yàn)、藥品檢驗(yàn)和高等院?；瘜W(xué)系等部門的單晶或共晶等有機(jī)物質(zhì)的分析；晶體的觀察和晶體熔點(diǎn)溫度的測定；X-4顯微熔點(diǎn)測定儀為研究工程材料、固體物理、觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化的過程，提供了有力的檢測手段。

X-4顯微熔點(diǎn)測定儀結(jié)構(gòu)原理：熔點(diǎn)儀顯微鏡、加熱臺為分體結(jié)構(gòu),通過簡單插入式熱傳感器相聯(lián)接，裝配簡單,使用方便，顯微鏡用來觀察樣品受熱后的反映變化及熔化的全過程。X-4顯微熔點(diǎn)測定儀加熱臺用電熱絲加熱，LED數(shù)顯溫度，自動(dòng)恒溫，可設(shè)定恒溫時(shí)間，通過設(shè)定溫度和調(diào)節(jié)輸出電壓達(dá)到控制溫升速度和恒溫目的。X-4顯微熔點(diǎn)測定儀帶有散熱器,當(dāng)實(shí)驗(yàn)完成后可用于快速降溫?？捎糜谳d波片法測量，也可用毛細(xì)管測量熔點(diǎn)。

X-4顯微熔點(diǎn)測定儀技術(shù)參數(shù)：

放大倍數(shù)：2X/4X物鏡，10X目鏡；       工作距離：30-110mm；

物方視場：Φ110mm-Φ3mm；             測定量：小于1mg/次；

測定誤差：滿量程±0.5%；              測量準(zhǔn)確度：±0.5℃