試驗(yàn)箱上部為高溫區(qū),下部為低溫區(qū),試件放置在試驗(yàn)箱中部工作室內(nèi),高溫沖擊時上風(fēng)門打開,形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時,上風(fēng)門關(guān)閉,下風(fēng)門打開,形成低溫內(nèi)循環(huán),如有需要還可以與環(huán)境溫度連通,形成三箱法實(shí)驗(yàn);試件靜止不動,避免了因試件移動帶來之諸多不便;
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱,產(chǎn)品特點(diǎn)及用途高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)箱
l 適用于電工、電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承、顯示屏等各種材料,在溫度急劇變化環(huán)境下對產(chǎn)品的破壞性能試驗(yàn);
l 試驗(yàn)箱上部為高溫區(qū),下部為低溫區(qū),試件放置在試驗(yàn)箱中部工作室內(nèi),高溫沖擊時上風(fēng)門打開,形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時,上風(fēng)門關(guān)閉,下風(fēng)門打開,形成低溫內(nèi)循環(huán),如有需要還可以與環(huán)境溫度連通,形成三箱法實(shí)驗(yàn);試件靜止不動,避免了因試件移動帶來之諸多不便;
l 中英文界面,數(shù)字顯示,直觀易讀;
l 溫度偏移修正,滿足您更為準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)要求;
l 主要零部件采用進(jìn)口件,確保試驗(yàn)箱具有*的可靠性;
l 多重保護(hù)功能,確保試驗(yàn)箱具有*的可靠性。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)
l GB-2423.1 低溫試驗(yàn)方法;
l GB-2423.2 高溫試驗(yàn)方法;
l GB-2423.22 溫度沖擊試驗(yàn);
l GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn);
l MIL-STD-810F-503.4
高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)箱
l 溫度波動度:≤±0.5℃
l 溫度偏差:≤±2℃
l 高溫室升溫時間:RT~200℃ ≤30min
l 低溫室降溫時間:RT~-60℃ ≤60min
l 溫度恢復(fù) 時 間:≤5min
l 風(fēng) 門 開 啟:≤5s
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