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應(yīng)力雙折射檢測(cè) 參考價(jià)：面議
在硅太陽(yáng)能電池板的生產(chǎn)過(guò)程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過(guò)程中往往沒(méi)有被檢測(cè)到，我們描述了一種測(cè)量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測(cè)，它可以是方形的，也可以是生長(zhǎng)的，然后被鋸成硅片...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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