德國EPK MINITEST730涂層測厚儀廠家
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術生產(chǎn)。

德國EPK MINITEST730涂層測厚儀廠家

-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術提升了測量的精J確性

-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

　

SIDSP技術-全J球技術，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱ELK）研發(fā)的，世界的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術生產(chǎn)。

SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您精J確的涂層厚度值。此項*的數(shù)字處理技術，同時應用在現(xiàn)代通訊技術（手機網(wǎng)絡）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質(zhì)量和精J確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設定了一個新的標準。

為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測量相關的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)J秀性能。

　

　

高精J確度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個點上進行校準，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分精J準，將測量錯誤降至Z低。

SIDSP探頭對溫度變化不敏感

在生產(chǎn)過程中，對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償?shù)木幋a，這對于模擬探頭是根本不可能實現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會影響測量，與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發(fā)生！

　

SIDSP探頭適應性強
需要快速測量幾個點嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動轉(zhuǎn)換到特定設置。想進行高精度測量嗎？沒問題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個數(shù)值還是連續(xù)測量，SIDSP都能完成您的選擇！

SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償
由于使用了EPK特殊的自動補償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應多種導電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無需特別在基體上校準儀器。

　

SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進SIDSP技術以滿足客戶的需求。您可以從EPK的進行免費的軟件升級，使您的SIDSP探頭總是版本。

　

　

MINITEST 700系列及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線，加強了EPK在全J球涂層測厚市場的.

有了新的SIDSP F型探頭（測量鐵基體）和N型探頭（測量非鐵基體），您可享受到高精J確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。

增加了測量速度設置選項
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時，儀器會報警，保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。

使用簡單方便
MINITEST 700按照人體工學設計，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
預設選項節(jié)省您的時間和金錢
所有MINITEST 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。為節(jié)省您的時間和金錢，儀器預設了大量校準方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準，零點校準，2點校準和3點校準。另外，還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應全J球銷售需要，MINITEST 700滿足各種標準：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。

MINITEST 700優(yōu)點一覽：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加精J確
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精J確度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件

　

標準配置：                                                                                                   
帶塑料手提箱，內(nèi)含：                                                                                 
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池

 推薦配件:
 -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架

技術數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭

探頭 特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
精J確度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
Z小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
Z小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
Z小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
Z小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
Z小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下Z大測量速度	每分鐘70個讀數(shù)

 主機

型號 特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據(jù)量	Z多10,000個	Z多10,000個	Z多100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)，Z小值，Z大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合標準和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內(nèi)置）/230g（外置）