產(chǎn)品簡介：

TESCAN MAGNA是一款功能極其強大的分析儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。MAGNA配置 Triglav™ 型 SEM 鏡筒，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯；鏡筒內(nèi)探測器系統(tǒng)具有電子信號過濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度，非常適用于不導電樣品的成像，如陶瓷、無涂層生物樣品，以及在半導體光敏樣品等。

產(chǎn)品特點

• *的實時電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™)功能，可設(shè)置優(yōu)化束斑尺寸和束流強度。
• *的TriBE^TM和TriSE^TM In-Beam探測器系統(tǒng)，實現(xiàn)更*進的納米尺度表征。
• TESCAN Essence™便利的電鏡操作軟件。
• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，如EDS、EBSD、CL、Raman聯(lián)用。