2µm-9µm，可用于熱成像和氣體分析的Infrared碲鎘汞探測(cè)器TEC

Infrared Associates提供一款高質(zhì)量熱電冷卻光電導(dǎo)碲鎘汞（MCT）探測(cè)器(Thermoelectric Cooled HgCdTe (MCT) detectors)供用戶選擇。Infrared碲鎘汞探測(cè)器TEC的，操作簡(jiǎn)便。標(biāo)準(zhǔn)TEC MCT探測(cè)器在2um至5um波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行了優(yōu)化，擴(kuò)展的Infrared紅外探測(cè)器范圍可在5um以上的波長(zhǎng)區(qū)域工作，光學(xué)增強(qiáng)型探測(cè)器既有反射式光學(xué)元件，也有折射式光學(xué)元件，以提高這些設(shè)備的收集效率，這三種都有對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)品，統(tǒng)計(jì)在下面的規(guī)格參數(shù)表中。這些HgCdTe探測(cè)器明顯增強(qiáng)的響應(yīng)度和D*值依賴于光學(xué)元件的入射能量重新聚焦到探測(cè)器元件上的能力，這些MCT探測(cè)器帶TEC設(shè)備適用于入射能量是準(zhǔn)直的或發(fā)散的應(yīng)用場(chǎng)合。因此，光學(xué)增強(qiáng)型探測(cè)器非常適合于使用光纖的應(yīng)用場(chǎng)合。Infrared碲鎘汞探測(cè)器，用于熱成像

HgCdTe (MCT)探測(cè)器安裝在TO型封裝的兩階段，三階段或四階段冷卻器上，如下表所示，每個(gè)型號(hào)都有對(duì)應(yīng)的封裝方式。熱電冷卻碲鎘汞探測(cè)器的封裝中包含一個(gè)校準(zhǔn)熱敏電阻，用于精確的溫度監(jiān)測(cè)或溫度控制。焊接窗口和焊接帽用于密封封裝，封裝內(nèi)回充惰性氣體，以提高冷卻器的運(yùn)行效率。

可提供以下附件：前置放大器、電源、散熱片和溫度控制器。

另外，還可提供其他波長(zhǎng)以及其他定制的產(chǎn)品，更多詳情，請(qǐng)聯(lián)系我們。

熱電冷卻碲鎘汞(MCT)探測(cè)器圖示

Infrared碲鎘汞探測(cè)器TEC的應(yīng)用：

- 熱成像

- 激光檢測(cè)

- 氣體分析

- 鐵路熱箱

- 線路掃描儀

熱電冷卻碲鎘汞(MCT)探測(cè)器的規(guī)格參數(shù)：

標(biāo)準(zhǔn)熱電冷卻 MCT 光電導(dǎo)探測(cè)器，HgCdTe (TE Cooled HgCdTe Detectors)

* 注：散熱器溫度為 30 攝氏度。

擴(kuò)展范圍的熱電冷卻碲鎘汞(MCT)探測(cè)器(TE Cooled HgCdTe Detectors)

Infrared碲鎘汞探測(cè)器，用于熱成像