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| 應用領域 | 電氣 |
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產品簡介
詳細介紹
CCD光電性能測試系統(tǒng)又稱CCD成像電子學系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測試設備。本系統(tǒng)能夠解決空間光學遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設計及輻射校正設 計及為光電成像器件受輻照后性能變化的機理研究提供檢測手段等諸多科學問題；同時能夠在業(yè)界對光電成像器件抗輻射性能評價的標準化和規(guī)范化起到積極推進作用。
CCD光電性能測試系統(tǒng)技術參數(shù)：
工作波段：380nm～1000nm(其他波長范圍可選)
動態(tài)范圍：≥80dB
光譜分辨率：≤0.5nm
峰值波長(測量精度)：優(yōu)于±1nm
中心波長(測量精度)：優(yōu)于±1.2nm
光譜帶寬(測量精度)：優(yōu)于±2nm
相對光譜響應度(測量精度)：優(yōu)于2%
有效測量區(qū)域：≤Φ120mm
暗噪聲：優(yōu)于±0.5mv
信噪比(測量精度)：優(yōu)于±5dB
飽和輸出電壓(測量精度)：優(yōu)于±20mV
響應非均勻性(測量精度)：優(yōu)于1%
響應非線性(測量重復性)：優(yōu)于2%
噪聲等效曝光量(測量精度)：優(yōu)于2%
光輻射響應度(測量精度)：優(yōu)于2%
測試項目：
飽和輸出電壓(SV：Saturation Voltage)
暗噪聲或固態(tài)圖像噪聲(VNOISE or VFPN)
暗信號(DS：Dark Signal)
信噪比(SNR：Signal Noise Ratio)
響應度非均勻性(PRNU：Photo Response Non Uniformity)
光輻射響應度(R)
相對光譜響應度(RS)
電荷轉移效率(CTE)
噪聲等效曝光量(NEE)
飽和曝光量(SE)
動態(tài)范圍(DR)
非線性度(NL)