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600SMD離子污染測(cè)試儀通過監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
離子污染測(cè)試儀OMEGAMETER 600SMD
美國SCS OMEGAMETER 600SMD 離子污染測(cè)試儀
600SMD離子污染測(cè)試儀通過監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。
在測(cè)試的開始時(shí)，系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)zui初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，然后計(jì)算在測(cè)試的過程中增加的離子量，當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí)，就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí)，這些操作大約需要5-10分鐘，測(cè)試SMD的板時(shí)，大約需要30-45分鐘。
測(cè)試結(jié)束后，zui后的離子含量水平，會(huì)編成一份微觀圖，包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況，在進(jìn)行下一次測(cè)試之前，通過儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液，從而達(dá)到再生的功能，并且建立新的基準(zhǔn)水平。
600SMD離子污染測(cè)試儀是*進(jìn)的儀器
600SMD離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器，采用非破壞式的測(cè)試方法，適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷，從而更有效的提高了清潔度，對(duì)于高密度的SMT產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。
600SMD離子污染測(cè)試儀通過監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。
在測(cè)試的開始時(shí)，系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)zui初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，然后計(jì)算在測(cè)試的過程中增加的離子量，當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí)，就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí)，這些操作大約需要5-10分鐘，測(cè)試SMD的板時(shí)，大約需要30-45分鐘。
測(cè)試結(jié)束后，zui后的離子含量水平，會(huì)編成一份微觀圖，包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況，在進(jìn)行下一次測(cè)試之前，通過儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液，從而達(dá)到再生的功能，并且建立新的基準(zhǔn)水平。
600SMD離子污染測(cè)試儀是*進(jìn)的儀器
600SMD離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器，采用非破壞式的測(cè)試方法，適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷，從而更有效的提高了清潔度，對(duì)于高密度的SMT產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。
OMEGA離子污染測(cè)試儀600SMD
一．說明：
顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的信息，并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者，以做出不同的條件設(shè)定。
系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中，點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份離子含量曲線圖表，并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后，的離子含量水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來。
穩(wěn)定的數(shù)據(jù)庫---------可以存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù)，包括樣品代碼、客戶代碼和樣品面積的大小。系統(tǒng)會(huì)保存zui近輸入的測(cè)試液的濃度。
加熱測(cè)試液----------加熱測(cè)試液是操作600SMD 離子污染測(cè)試儀的重要因素，當(dāng)提高測(cè)試液溫度至110-----125°F時(shí)就可以提高液體內(nèi)離子的分解速度。不銹鋼蓄水箱裝有發(fā)熱管及溫控器，當(dāng)水溫超過130°F時(shí)就會(huì)發(fā)出警告并停止加溫。系統(tǒng)預(yù)熱需要大約45分鐘，操作的溫度應(yīng)保持在110°F-------125°F，這主要是根據(jù)測(cè)試槽的大小以及周圍的溫度來調(diào)節(jié)的。
電子校驗(yàn)--------此儀器可用電阻測(cè)量系統(tǒng)予以確認(rèn)，如果這個(gè)系統(tǒng)不能正常的工作，那么系統(tǒng)就會(huì)停止并且在顯示器上出現(xiàn)相應(yīng)的提示。
化學(xué)校驗(yàn)--------這個(gè)程序適合所有系統(tǒng)部件的操作確認(rèn)，從測(cè)量探頭至系統(tǒng)打印機(jī)。
自動(dòng)停止--------操作者對(duì)測(cè)試循環(huán)的時(shí)間可作設(shè)定。如果未設(shè)定，那么系統(tǒng)在離子水平穩(wěn)定并且四分鐘保持不變就會(huì)自動(dòng)停止。
RS-232-C數(shù)據(jù)輸出系統(tǒng)---------IBM兼容部分安裝在儀器的后面可作數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，電腦和儀器需要驅(qū)動(dòng)軟件，只有當(dāng)數(shù)據(jù)輸出完畢之后，系統(tǒng)才能進(jìn)行交互（目前尚未有此功能）。
測(cè)試槽--------根據(jù)樣品的表面大小、比例來選擇*的測(cè)試液量，可選擇四種不同大小的測(cè)試槽（8”×8”，12”×12”，12”×18”，18”×18”）。理想的操作是達(dá)到比例為35 cc/sq.inch。所有的測(cè)試槽都安裝有浸潤式的噴水頭，這樣可以滲透至樣品的不同部位以及增加沖洗的速度。在測(cè)試槽的底部有多個(gè)進(jìn)水口。
液體量的指示器--------系統(tǒng)的測(cè)試槽標(biāo)有容積刻度，這樣就可以直接讀出系統(tǒng)液體量。
二．操作原理：
SMD600離子污染測(cè)試儀通過監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。
在測(cè)試的開始時(shí)，系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)zui初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，然后計(jì)算在測(cè)試的過程中增加的離子量，當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí)，就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí)，這些操作大約需要5-10分鐘，測(cè)試SMD的板時(shí)，大約需要30-45分鐘。
測(cè)試結(jié)素后，zui后的離子含量水平，會(huì)編成一份微觀圖，包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況，在進(jìn)行下一次測(cè)試之前，通過儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液，從而達(dá)到再生的功能，并且建立新的基準(zhǔn)水平。
三． 600 SMD離子污染測(cè)試儀是*進(jìn)的儀器
600 SMD離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器，采用非破壞式的測(cè)試方法，適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷，從而更有效的提高了清潔度，對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。
四．特點(diǎn)：
1．理器控制
2．?dāng)?shù)據(jù)條顯示，簡(jiǎn)單方便
3．可存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù)
4．以曲線圖表的打印所有測(cè)試程序
5．自動(dòng)停止測(cè)試
6．加熱測(cè)試液以增加離子溶解度
7．測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性
8．快速測(cè)試
9．測(cè)試槽的大小可選擇
10．RS-232-C的電腦輸出端口（未有）
11．英制/公制的轉(zhuǎn)換
如需更詳細(xì)資料或報(bào)價(jià)請(qǐng)資詢：
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李瑞軀
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