高低溫實驗設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn):可將低溫、高溫、試驗時間、程序一次性設(shè)定,由設(shè)備自行走程序運行,是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
高低溫實驗設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn)
①GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法
②GB/T 2423.2-2001 試驗B:高溫試驗方法
③GJB 150.3-1986 高溫試驗
④GJB 150.4-1986 低溫試驗
⑤IEC68-2-1 試驗A:寒冷.
⑥GB 11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》
⑦GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法》.
⑧GB/T10586-89 濕熱試驗箱條件
⑨GT/T2423.3-93、GT/T2423.4-93 濕熱試驗箱