目錄:儀景通光學科技（上海）有限公司>>無損檢測產品>>無損探傷儀>> OmniScan X4相控陣兼TFM探傷儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 其他 | 應用領域 | 石油,地礦,能源,交通,航天 |
OmniScan X4多技術系列儀器是一種功能強大的便攜式解決方案，其高速度和多功能性可提升您的工作效率，同時增強您對評估工作的信心。利用其高級相控陣功能、高效的全聚焦方式（TFM） 和創(chuàng)新型相位相干成像（PCI）技術，可以探測和解讀具有挑戰(zhàn)性的缺陷，并通過更早地識別損傷來確保資產的完整性。
性能優(yōu)異，值得信賴
每臺OmniScan X4儀器堪稱一個無所不包的多技術檢測工具箱，可使您利用多種超聲檢測技術。利用其檢測和測量功能，可在損壞變得嚴重之前準確識別和評估損壞的嚴重程度，從而保護那些容易出現裂紋或腐蝕的焊縫、部件和資產。
使用PCI進行可靠評估
在探測和突出顯示以往難以檢測的缺陷時，如鉤狀裂紋和應力腐蝕開裂（SCC），相位相干成像技術有助于消除疑慮。使用PCI可以清楚地區(qū)分細小裂紋群中的單個缺陷，并可靠地進行表征。
TFM采集率提高了3倍
由于OmniScan X4系列儀器處理能力的提升，獲得清晰TFM圖像的速度比上一代型號（X3 64）快了三倍*。OmniScan X4 64:128PR儀器擁有128個晶片能力，速度更快，可以利用其擴展的聚焦功能進行TFM檢測。
*達到這一速度取決于配置和稀疏發(fā)射的使用。
獲得即時洞察力，消除低效率問題
TFM和PCI雙重技術讓您信心倍增
采用具有不同特性的PCI和TFM兩種技術，同時從焊縫兩側徹查整個焊縫體積。使用兩個探頭對焊縫進行一次性掃查，即可顯示TFM和PCI結果，以便高效精確地比較、測量和確認缺陷特征。
設計宗旨是提高速度和簡化操作
在OmniScan X4系列儀器上可以簡單直觀地進行相控陣、TOFD、TFM和PCI檢測。任何經驗水平的檢測人員都可以利用這些技術，通過簡單的逐步掃查計劃和應用預設，提高效率，增強信心。
便捷的應用預設
OmniScan X4的應用預設，可以改善學習曲線，提高檢測在不同操作員之間的可靠性和一致性。即使是低級別用戶和新用戶也可以在幾分鐘內完成優(yōu)質的PA或PCI配置。
通過腐蝕和復合材料檢測選項，這些預編程參數簡化了使用HydroFORM、FlexoFORM和RollerFORM掃查器的掃查設置，而且您還可以根據需要調整設置。
簡化了復雜配置
OmniScan X4掃查計劃的直觀分步3D圖形可簡化從基本到復雜的各種檢測設置。
在設置光柵掃查計劃時，可以自行命名掃查軸，還可以創(chuàng)建相對于資產的基準參考點。這些真實世界的參考以及真實方向的校正，大大地方便了為報告創(chuàng)建直觀的檢測數據示意圖的操作。
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