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詳細(xì)介紹
95成新二手電鏡JSM-6510:主要特點(diǎn)
| 1. | 電子光學(xué)系統(tǒng)，簡(jiǎn)單操作 | ||
| Ⅰ | 新設(shè)計(jì)的超級(jí)圓錐型物鏡，保證3nm的分辨率。很容易得到高質(zhì)量照片。 | ||
| Ⅱ | 廣域掃描線圈可以得到低5倍的放大倍數(shù)從而提高觀察樣品的效率。 | ||
| Ⅲ | 電子光學(xué)系統(tǒng)可以在大束流下形成小束斑，有利于微區(qū)分析。 | ||
| 2. | 高分辨率 | ||
| Ⅰ | JSM6510系列超級(jí)圓錐形物鏡，在工作距離8mm時(shí)的分辨率為3nm，超級(jí)圓錐形物鏡 | ||
| 2 | 的外形設(shè)計(jì)可以做到短工作距離情況下樣品仍然可以大角度傾斜。 | ||
| 3. | 全自動(dòng)電子槍 | ||
| 2 | Ⅰ | JEOL開發(fā)的全自動(dòng)電子槍能夠產(chǎn)生極小電子束源，只要選擇好加速電壓，就可以進(jìn) | |
| 行觀察或成分分析。 | |||
| Ⅱ | 電子槍偏壓是調(diào)節(jié)電子槍亮度的重要部件。JEOL的無(wú)縫自給加壓系統(tǒng)能隨著電壓變 | ||
| 化隨時(shí)調(diào)整偏壓，使得無(wú)論選擇哪個(gè)加速電壓，都能得到亮度。 | |||
| Ⅲ | JEOL*的像散記憶功能能夠自動(dòng)糾正隨加速電壓或工作距離改變而產(chǎn)生的像散。 | ||
 |  | ||
| 1KV | 5KV | ||
 |  | ||
| 10KV | 20KV | ||
| 4. | 多圖顯示模式 | ||
| 3 | Ⅰ | 主顯示區(qū)可以同時(shí)顯示兩幅實(shí)時(shí)圖像，分別為二次電子像和背散射電子像，參考區(qū) | |
| 也可顯示２幅實(shí)時(shí)圖像，例如二次電子圖像，背散射電子圖像或ＣＣＤ相機(jī)圖像。 | |||
| Ⅱ | 雙實(shí)時(shí)顯示模式可以用于不同信號(hào)圖像的對(duì)比，用戶可在觀察表面形貌的同時(shí)了解 | ||
| 樣品的成份分布情況。 | |||
| Ⅲ | 選用多種圖像顯示模式時(shí)，點(diǎn)擊"PHOTO"按紐可同時(shí)獲得并存儲(chǔ)2或3幅全屏尺度圖像。 | ||
| 5. | 簡(jiǎn)單易懂的操作接口及菜單 | ||
| Ⅰ | 操作接口簡(jiǎn)單，直觀，默認(rèn)的操作接口顯示了常用的功能按鈕，并以簡(jiǎn)單圖文標(biāo) | ||
| 明，點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可操作所有功能。 | |||
| Ⅱ | 實(shí)時(shí)量測(cè)，圖片上的長(zhǎng)度和角度等結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)能在顯示器上進(jìn)行測(cè)量。 | ||
| 6. | 可變焦聚光鏡修正 | ||
| Ⅰ | 做表面觀察和元素分析等不同應(yīng)用時(shí)，選擇合適束流，一般是通過(guò)聚光鏡 | ||
| 與物鏡光闌來(lái)控制電子束流的。如果在調(diào)整束流過(guò)程中，焦點(diǎn)和觀察區(qū)域位移變化 | |||
| 很小，調(diào)整起來(lái)會(huì)比較方便。JEOL*的可變焦聚光鏡可以保證這一點(diǎn)。 | |||
95成新二手電鏡JSM-6510:掃描電子顯微鏡
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過(guò)程。
操作窗口
直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便于迅速掌握操作。
支持多用戶
單個(gè)用戶可以根據(jù)常用功能設(shè)置相應(yīng)的圖標(biāo)，營(yíng)造快捷的操作環(huán)境。用戶登錄時(shí)，即可加載已注冊(cè)過(guò)的設(shè)定。
同時(shí)顯示兩幅圖像
畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實(shí)時(shí)圖像?？赏瑫r(shí)觀察樣品的形貌和組成分布。
微細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量
適合于多種測(cè)量功能。可在觀察圖像上直接進(jìn)行測(cè)量。也可將測(cè)量結(jié)果貼至SEM圖像，保存在文件中。
標(biāo)準(zhǔn)的全對(duì)中樣品臺(tái)，能收錄三維照片
3D Sight（選配件），能夠進(jìn)行平面測(cè)量和高度測(cè)量，實(shí)現(xiàn)立體俯視圖。
從圖像觀察到元素分析，配合連貫
分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺(tái)監(jiān)視器，一臺(tái)用于SEM圖像觀察和另一臺(tái)用于元素分析（EDS）。一只通用鼠標(biāo)即可同時(shí)控制兩臺(tái)監(jiān)視器。大尺寸畫面使操作更加簡(jiǎn)便與舒適。
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