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二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡 詳細(xì)摘要: 二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡:掃描電鏡(SEM)是利用電子束掃描樣品表面,產(chǎn)生二次電子等信號(hào),通過檢測這些信號(hào)來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點(diǎn)是分辨率高,可觀察到納米級(jí)別的細(xì)節(jié),景深大,能清晰呈現(xiàn)三維形貌,可同時(shí)進(jìn)行成分分析。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:深圳市 更新時(shí)間:2024-11-14 在線留言 -
二手ZEISS-FEI掃描電鏡 詳細(xì)摘要: 二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品表面形貌的高分辨率觀察,為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍,能夠滿足不同研究領(lǐng)域的精細(xì)觀察需求。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:深圳市 更新時(shí)間:2024-11-14 在線留言 -
二手日本電子(SEM)IT-300 詳細(xì)摘要: 二手日本電子(SEM)IT-300提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對(duì) W-SEM 機(jī)型的期待,鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有所提高
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:深圳市 更新時(shí)間:2024-10-15 在線留言 -
二手日本電子SEM+EDX 詳細(xì)摘要: 二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng),不僅能觀察高質(zhì)量的圖像,還能利用觸控屏和快速樣品臺(tái)進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對(duì)W-SEM機(jī)型的期待,新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:深圳市 更新時(shí)間:2024-05-09 在線留言 -
二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 詳細(xì)摘要: 二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產(chǎn)品均可滿足工業(yè)工藝控制實(shí)驗(yàn)室、材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的多種樣本和成像要求。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:深圳市 更新時(shí)間:2024-04-28 在線留言 -
(2手)掃描電鏡SEM+EDX 詳細(xì)摘要: (2手)掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析儀(EDS),統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制,操作員只用一只鼠標(biāo),就可完成從圖像觀測到元素分析的整個(gè)過程。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:深圳市 更新時(shí)間:2023-10-19 在線留言 -
日立SEM二手S-4300 詳細(xì)摘要: 日立SEM二手S-4300掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內(nèi)透鏡設(shè)計(jì),卻能達(dá)到分辨率,可以與內(nèi)透鏡UHR掃描電鏡相媲美。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:深圳市 更新時(shí)間:2021-08-17 在線留言