詳細介紹
桌面型掃描電子顯微鏡SEM表面分析儀IT100
優(yōu)秀電子光學(xué)系統(tǒng)
掃描電子顯微鏡金屬材料表面分析儀JSM-IT100A是日本電子株式會社推出機型,沿襲日本電子的優(yōu)秀電子光學(xué)系統(tǒng),集合了分析掃描電鏡精髓功能,設(shè)計精簡自動化程度高。
使用多點觸摸屏,操作舒適
桌面型掃描電子顯微鏡SEM表面分析儀IT100通過多點觸控技術(shù)和的操作軟件,操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能,舒適便捷。新開發(fā)的操作界面簡明易懂,即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的SEM圖像,進行EDS元素分析。
標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡
標準配置EDS分析功能的JSM-IT100A,不僅能獲取高分辨率的圖像,還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器 (DRY SD),能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外,搭載的大型全對中形樣品臺可以對應(yīng)各種樣品。
優(yōu)點:
①有較高的放大倍數(shù),幾萬~幾十萬倍之間連續(xù)可調(diào);
②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu);
③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當今十分有用的科學(xué)研究儀器。