篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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主營產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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德國Fischer x射線測厚儀 XULM 240代理 簡單介紹:德國Fischer x射線測厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器,觸點(diǎn)或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測量,20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-11-18 |
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xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測厚儀代理 簡單介紹:xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測厚儀代理 有三個(gè)型號(hào):XDLM 231具有平面支撐臺(tái),XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái),當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí),該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-09-04 |
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無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 簡單介紹:無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-09-04 |
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*費(fèi)希爾x-ray xan x射線熒光測量儀 簡單介紹:*費(fèi)希爾x-ray xan x射線熒光測量儀 X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內(nèi)可同時(shí)測定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-09-03 |
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XDAL237 X射線熒光測厚儀 簡單介紹:XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測量方向,XDL系列測量儀器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號(hào),從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上,F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-09-03 |
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xan500fischer德國* 簡單介紹:xan500fischer德國* 手持式、臺(tái)式、在線: XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用,也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-09-03 |
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xan500便攜式x射線測厚儀* 簡單介紹:便攜式x射線測厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用,也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后,XAN500同樣采用久經(jīng)考驗(yàn)的WinFTM軟件。基于基本參數(shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析,還能測量鍍層厚度,并可實(shí)現(xiàn)無校準(zhǔn)(不需標(biāo)準(zhǔn)片)測量。 產(chǎn)品型號(hào):xan500 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-09-03 |
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德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀 簡單介紹:德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。 通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù),F(xiàn)ISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn) 產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-09-02 |
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Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀 簡單介紹:Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀 但是,如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況,那么配備半導(dǎo)體探測器的儀器,如XAN120,應(yīng)該更加適合。由于具備非常好的分辨率,它也可以用來區(qū)分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-08-30 |
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XDAL 237x射線鍍層與合金的材料分析儀 簡單介紹:x射線鍍層與合金的材料分析儀 作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的*驅(qū),菲希爾很早就意識(shí)到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力,因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級(jí)耐用的測量儀器 產(chǎn)品型號(hào):XDAL 237 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-08-28 |
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