應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)產(chǎn)品簡介

   WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速的測量能力使其成為不可多得的光學(xué)測量產(chǎn)品。

該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布?？蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器，適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L特點

u  操作簡單，測量速度可以快到3秒，

u  采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

u  測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

u  具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

u  維護簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機構(gòu)。

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L主要應(yīng)用

·         光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導(dǎo)光板）

·         透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

·         透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

·         透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結(jié)晶鉆石）

·         有機材料（球晶、FishEve）

參數(shù)指標(biāo)