詳細(xì)介紹
橢圓偏振測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹:
FMD6133手動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀使用消光法測(cè)量薄膜厚度和折射率;手動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試過(guò)程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法地應(yīng)用于固體基片上介質(zhì)薄膜的測(cè)量。在己有測(cè)定薄膜厚度的方法中,它是能測(cè)量到zui薄和精度zui高的一類。
實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目:
1.了解并熟悉儀器的工作原理和性能
2.掌握如何利用設(shè)備測(cè)試樣品的方法
指標(biāo):
偏振器方位角讀數(shù)范圍:0°-180°
測(cè)量范圍:1nm-300nm
測(cè)量值:≤1nm
入射角:30°-90°;誤差:≤0.1°
度盤(pán)刻度:每格2度
游標(biāo)格值:0.05°
光學(xué)中心高度:152mm
工作臺(tái)直徑:Φ70mm
外形尺寸:730mm*230mm*290mm
產(chǎn)品重量:20kg;
產(chǎn)品介紹:
FMD6133手動(dòng)使用消光法測(cè)量薄膜厚度和折射率;手動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試過(guò)程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法地應(yīng)用于固體基片上介質(zhì)薄膜的測(cè)量。在己有測(cè)定薄膜厚度的方法中,它是能測(cè)量到zui薄和精度zui高的一類。
實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目:
1.了解并熟悉儀器的工作原理和性能
2.掌握如何利用設(shè)備測(cè)試樣品的方法
指標(biāo):
偏振器方位角讀數(shù)范圍:0°-180°
測(cè)量范圍:1nm-300nm
測(cè)量值:≤1nm
入射角:30°-90°;誤差:≤0.1°
度盤(pán)刻度:每格2度
游標(biāo)格值:0.05°
光學(xué)中心高度:152mm
工作臺(tái)直徑:Φ70mm
外形尺寸:730mm*230mm*290mm
產(chǎn)品重量:20kg;