USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀 參考價:面議
奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能...USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀 參考價:面議
USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點:消除背面反射光采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)