目錄:束蘊儀器（上海）有限公司>>MDP>> Freiberg--MDPmapMDPmap晶圓片壽命檢測儀--少子壽命測試
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,冶金,航天,汽車,電氣 |
?產(chǎn)品介紹
--MDPmap（MDPmap晶圓片壽命檢測儀--少子壽命測試）是一個緊湊的離線臺式檢測設(shè)備，主要被設(shè)計用于生產(chǎn)控制或研發(fā)、測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息等參數(shù)。其工作狀態(tài)為穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵下（μ-PCD）。
--MDPmap（MDPmap晶圓片壽命檢測儀--少子壽命測試）自動化的樣品識別和參數(shù)設(shè)置可以使該儀器方便地適應(yīng)各種不同的樣品，包括從生長的晶圓到高達(dá)95%的金屬化晶圓之間不同制備階段的各種外延片和晶圓片。
--MDPmap主要優(yōu)點是其高度的靈活性，它允許集成多達(dá)4個激光器，用于從超低注入到高注入的與注入水平相關(guān)的壽命測量，或者通過使用不同的激光波長提取深度信息。
?設(shè)備特點
--靈敏度：對外延工藝監(jiān)控和不可見缺陷檢測，具有可視化測試的較高分辨率
--測量速度：6英寸硅晶圓片，1mm分辨率 ，小于5分鐘
--壽命測試范圍: 20納秒到幾十毫秒
--沾污檢測：源自坩堝和生長設(shè)備的金屬(Fe)污染
--測量能力：從初始切割的晶圓片到所有工藝加工的樣品
--靈活性：允許外部激光通過觸發(fā)器，與探測模塊耦合
--可靠性： 模塊化和緊湊臺式儀器，更高可靠性，正常運行時間> 99%
--重現(xiàn)性： > 99.5%
--電阻率：無需時常校準(zhǔn)的電阻率面掃描
?設(shè)備參數(shù)
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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