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          目錄:廈門超新芯科技有限公司>>樣品臺>>Volcano Series In Situ Holders>> 透射電鏡雙傾熱電原位系統(tǒng)

          透射電鏡雙傾熱電原位系統(tǒng)
          • 透射電鏡雙傾熱電原位系統(tǒng)
          • 透射電鏡雙傾熱電原位系統(tǒng)
          • 透射電鏡雙傾熱電原位系統(tǒng)
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 品牌 CHIPNOVA
          • 型號
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
          • 所在地 廈門市
          屬性

          >

          更新時間:2023-12-27 09:36:52瀏覽次數(shù):6694評價

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          透射電鏡雙傾熱電原位系統(tǒng)通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建熱、電復(fù)合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng),結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現(xiàn)從納米甚至原子層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、電場變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。

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          我們的優(yōu)勢

          優(yōu)異的電學(xué)性能

          1.采用模擬校驗設(shè)計的芯片電極,電場分布均勻、電位穩(wěn)定,芯片表面的保護性涂層保證電學(xué)測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達皮安級。

          2.MEMS微加工特殊設(shè)計,在加熱過程中可同時進行電學(xué)試驗和表征,不影響溫度穩(wěn)定性。


          優(yōu)異的熱學(xué)性能

          1.高精密紅外測溫校正,微米級高分辨熱場測量及校準(zhǔn),確保溫度的準(zhǔn)確性。

          2.四電極的超高頻控溫方式,排除導(dǎo)線和接觸電阻的影響,測量溫度和電學(xué)參數(shù)更精確。

          3.采用高穩(wěn)定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料),既是熱導(dǎo)材料又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關(guān)系,加熱區(qū)覆蓋整個觀測區(qū)域,升溫降溫速度快,熱場穩(wěn)定且均勻,穩(wěn)定狀態(tài)下溫度波動≤±0.01℃。

          4.采用閉合回路高頻動態(tài)控制和反饋環(huán)境溫度的控溫方式,高頻反饋控制消除誤差,控溫精度±0.01℃。

          5.DUTE多級復(fù)合加熱MEMS芯片設(shè)計,控制加熱過程熱擴散,極大抑制升溫過程的熱漂移,確保實驗的高效觀察。

          6.加熱絲外部由氮化硅包覆,不與樣品發(fā)生反應(yīng),確保實驗的準(zhǔn)確性。


          智能化軟件和自動化設(shè)備

          1.人機分離,軟件遠(yuǎn)程控制實驗條件,程序自動化控制傾轉(zhuǎn)角度。

          2.自定義程序升溫曲線??啥x10步以上升溫程序、恒溫時間等,同時可手動控制目標(biāo)溫度及時間,在程序升溫過程中發(fā)現(xiàn)需要變溫及恒溫,可即時調(diào)整實驗方案,提升實驗效率。

          3.內(nèi)置絕對溫標(biāo)校準(zhǔn)程序,每塊芯片的每次控溫都能根據(jù)電阻阻值變化,重新進行曲線擬合和校正,確保測量溫度精確性,保證高溫實驗的重現(xiàn)性及可靠性。

          4.全流程配備精密自動化設(shè)備,協(xié)助人工操作,提高實驗效率。



          技術(shù)參數(shù)

          類別項目參數(shù)
          基本參數(shù)臺體材質(zhì)
          電極數(shù)4
          視窗膜厚無膜或20nm
          漂移率<0.5 nm/min(穩(wěn)定狀態(tài))
          傾轉(zhuǎn)角α ≥ ±25°,β ≥ ±25°(實際范圍取決于極靴型號)
          適用電鏡Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
          適用極靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
          (HR)TEM/STEM支持
          (HR)EDS/EELS/SAED支持升溫過程及高溫檢測













          應(yīng)用案例

          熱電案例1.png

          Ag2Te基熱電材料隨電壓變化情況


          未標(biāo)題-1.png

          0.4v電壓Ag2Te基熱電材料高分辨

          Ag2Te 基熱電材料由于能夠通過內(nèi)部載流子的運動實現(xiàn)電能和熱能之間的相互轉(zhuǎn)換;因此,在進行施加電壓實驗過程中會出現(xiàn)隨著電壓的增大,樣品自身溫度升高的現(xiàn)象;研究得知隨著電壓持續(xù)升高,樣品表面結(jié)構(gòu)變化明顯,紋路由不規(guī)則塊狀演變成條狀或消失。而且,通過降低電壓的過程,我們發(fā)現(xiàn)該材料升高或降低電壓時,表面結(jié)構(gòu)發(fā)生變化的過程是可逆的,表明該材料具有優(yōu)異的熱電性能和重復(fù)使用性能。


















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