產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 手持式 |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 600-2千 | 儀器原理 | 激光測距儀 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,交通,冶金 |
德國帝爾電子有限公司(TR-Electronic GmbH)是一家專業(yè)生產(chǎn)和銷售編碼器,工業(yè)計(jì)算機(jī)的自動(dòng)化系統(tǒng)集團(tuán)公司。
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2019-08-20 14:55:18瀏覽次數(shù):456
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德國TR激光測距儀
激光測距儀測量原理
目前,國內(nèi)比較常用的兩種非接觸測量方法,一種是基于CCD器件接收光信號(hào)的測量方法,另一種是激光掃描測量方法。兩種方法各有各的優(yōu)勢以及劣勢,下面讓我們來看看他們的基本工作原理。
*種測量原理:CCD尺寸測量
將線陣CCD置于平行光路,被測物放于CCD前方光路中,射向CCD的光就被物體擋住一部分,因此CCD輸出的信號(hào)就有一個(gè)凹口。顯然,凹口的寬度與物體的尺寸有一一對應(yīng)的關(guān)系,我們利用數(shù)字電路設(shè)計(jì)和計(jì)算機(jī)處理就很容易的得到凹口對應(yīng)的CCD像元數(shù),從而計(jì)算出被測物體的尺寸。
但是我們也很容易的發(fā)現(xiàn)一個(gè)問題:這種測量方法要求CCD光敏區(qū)的長度大于被測物體的尺寸,而大尺寸的CCD特別昂貴,所以必須通過其他方法來實(shí)現(xiàn)光的接收。
第二種測量原理:激光掃描測量
激光掃描測徑儀系統(tǒng)采用激光器發(fā)出的光束通過多面體掃描轉(zhuǎn)鏡和掃描光學(xué)系統(tǒng)后,形成與光軸平行的連續(xù)高速掃描光束,對被置于測量區(qū)域的的工件進(jìn)行高速掃描,并由放在工件對面的光電接收器接收,投射到光電光電接收器上的光線在光束掃描工件時(shí)被遮斷,所以通過分析光電接受器輸出的信號(hào),可獲得與工件直徑有關(guān)系的數(shù)據(jù)。為保證測量的高精度以及可靠性,光掃描計(jì)量系統(tǒng)必須滿足以下三點(diǎn)基本要求:
(1)激光束應(yīng)垂直照射被測物體表面;
(2)光束必須對物體表面做勻速直線掃描運(yùn)動(dòng);
(3)掃描時(shí)間必須測的很準(zhǔn)確。
德國TR激光測距儀常見型號(hào):
CE-58-S、CE-58-M、CE-65-S、CE-65-M、CE-100-M、ZE-65-M、ZE-115-M,QEH80M SSI+49740024、CES58S-DN-1-GB-1、CEV65N 02268、CE100M 100-01102、CE65S 206-00037、CE65E SL3002、CE65W SL 3005、HE65S 206-00347、CE100M 100-01169、CE65S 111-00169、ZE65M 171-50124、CE65M 110-00630、CE100M 100-00390、CE65M 110-01460、CE58M 5802-00035、AE100M 2200-00226、CE100M 100-等
CE-58-S系列:CE-58-S-INC、CE-58-S-P、CE-58-S-SSI
CE-58-M系列:CE-58-M-AS-I、CE-58-M-CAN、CE-58-M-DEV、CE-58-M-PRO、CE-58-M-SS
I CE-65-S系列:CE-65-S-A、CE-65-S-ASI、CE-65-S-CAM、CE-65-S-IBS、CE-65-S-LWL、CE-65-S-P、CE-65-S-PRO、CE-65-S-SSI、CE-65-S-SUC
ZE-65-S系列:ZE-65-S-IBS、ZE-65-S-ISI、ZE-65-S-LWL、ZE-65-S-P、ZE-65-S-PRO、ZE-65-S-SSI等等。
以上內(nèi)容可供參考,如有需求,詳見:德國TR