詳細介紹
MAP-200 mORL/mIL 插損/回損測試解決方案
主要優(yōu)點
• 使供應(yīng)效率增加4倍
• 所需空間為其他測試平臺的25%
• 可擴展至高成長性、高性能新應(yīng)用,例如40/100 G數(shù)據(jù)中心市場
• 模塊化平臺可根據(jù)需要在預算允許范圍內(nèi)擴展
• 通過端口映射在15秒以內(nèi)驗證多芯光纖MPO組件的連通性及雙向性能
• *支持快速增長的MPO和MTP多光纖連接器的測試
應(yīng)用
• 對光連接器和光纜組件、結(jié)構(gòu)化布線解決方案和光分路器的插損/回損/長度進行測試
• 對多芯光纖組件(例如MPO)進行自動測試
• 單模和多模光纖測試解決方案
• 對大型多芯光纖組件的連通及雙向性能指標進行驗證
MAP-200 mORL/mIL 插損/回損測試解決方案
對于連接密集型中心局、數(shù)據(jù)中心和光分配網(wǎng)絡(luò)至關(guān)重要。在遠程通信、數(shù)據(jù)通信、無線回傳和FTTx之外,在海洋、航空電子和軍事應(yīng)用繼續(xù)大幅增加的同時,新式超級計算應(yīng)用也在不斷涌現(xiàn)。所有這些市場都是由更高的帶寬要求推動的。出于必要,市場上不斷推出新的連接器規(guī)格,這是由降低安裝成本、加快部署的需求推動的。
但這些連接點的質(zhì)量和光性能往往被忽視。插損和回損(IL和RL)不佳可能會對網(wǎng)絡(luò)性能造成深遠影響。性能不佳會直接影響接入和可靠性,甚至會阻礙技術(shù)升級之路。同時,經(jīng)濟因素也要求提供商繼續(xù)降低成本、加快供應(yīng)并縮短上市時間。