物鏡378-825-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-863-5

用于明場的近紅外校正物鏡

M Plan Apo NIR / M Plan Apo NIR HR

VMU FS70

■特長

?用于無限遠(yuǎn)校正、明場觀察及激光加工

?長工作距離?計(jì)劃?阿波羅規(guī)格

?從可見區(qū)域（一般觀察波長范圍）到近紅外區(qū)域（波長～1800nm）進(jìn)行了修正設(shè)計(jì)。

?NIR HR：高分辨率規(guī)格?分辨率提高約50%以上（標(biāo)準(zhǔn)型

上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點(diǎn)深度是根據(jù)基準(zhǔn)波長（λ＝0.55μm）計(jì)算出的值。

注）使用波長在1100nm以上時(shí)，玻璃分散的變化和折射率等測量會產(chǎn)生誤差，比可見光的焦點(diǎn)位置稍有偏差。

■特長

?用于無限遠(yuǎn)校正、明場觀察及激光加工

?長工作距離?計(jì)劃?阿波羅規(guī)格

?符合YAG激光器的基本波、第二諧波的激光高透過率類型。從可見光區(qū)域的420nm到近紅外區(qū)域的1064nm進(jìn)行了修正設(shè)計(jì)。

?在保持NIR系列20×、50×NA的狀態(tài)下，實(shí)現(xiàn)了25.5mm的超長動作距離，大大提高了操作性。

上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點(diǎn)深度是根據(jù)基準(zhǔn)波長（λ＝0.55μm）計(jì)算出的值。

注）使用波長在1100nm以上時(shí)，玻璃分散的變化和折射率等測量會產(chǎn)生誤差，比可見光的焦點(diǎn)位置稍有偏差。

物鏡378-825-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-863-5

M Plan Apo NIR 100 ×              378-826-15                0.50                  12.0                     2                       0.6                                                                 1.1                                0.24                  0.05 × 0.06       335

M Plan Apo NIR HR

M Plan Apo NIR HR 50 ×            378-863-5                 0.65                  10.0                     4                       0.4                                                                  0.7                               0.48                  0.10 × 0.13       450

M Plan Apo NIR HR 100 ×          378-864-5                 0.70                  10.0                     2                       0.4                                                                  0.6                               0.24                  0.05 × 0.06       450