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X射線測(cè)厚儀有哪些主要原理呢2023/3/24

X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控...

鍍層膜厚標(biāo)準(zhǔn)片的應(yīng)用及作用2022/12/30

鍍層膜厚標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,用于測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度的時(shí)候進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn).也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層...

鍍層膜厚儀有哪些主要功能呢2022/11/24

鍍層膜厚儀主要檢測(cè)鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀、鍍銅等金屬鍍層厚度，儀器利用X射線原理，是一款快速、無(wú)損、準(zhǔn)確測(cè)試電鍍層厚度的儀器，廣泛應(yīng)用于衛(wèi)浴、高壓開(kāi)關(guān)、電器連接器、精密五金、表面處理等企業(yè)中，產(chǎn)...

一文介紹x射線鍍層測(cè)厚儀原理及應(yīng)用范圍2022/10/31

X射線鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量速度慢，多適用于抽樣檢...

X射線管各部分的作用介紹2022/9/22

X射線管合理的設(shè)計(jì)使其具備長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作的能力，符合光譜儀及X射線直接成像設(shè)備的工作特點(diǎn)，大工作電壓50kV,大工作電流1mA。光管采用W質(zhì)陽(yáng)極靶材，擁有穩(wěn)定的使用壽命及適用性較廣的激發(fā)X射線，適用于...

X射線管的產(chǎn)品原理介紹2022/8/22

X射線管在醫(yī)學(xué)上用于診斷和治療,在工業(yè)技術(shù)方面用于材料的無(wú)損檢測(cè)、結(jié)構(gòu)分析、光譜分析和底片曝光等。X射線對(duì)人體有害，使用時(shí)須采取有效防護(hù)措施。陽(yáng)極由陽(yáng)極頭、陽(yáng)極帽、玻璃圈和陽(yáng)極柄構(gòu)成。陽(yáng)極的主要作用使...

鍍層測(cè)厚儀的主要應(yīng)用介紹2022/7/28

鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)。對(duì)鍍層厚度有明確要求。鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法...

X射線測(cè)厚儀的主要特點(diǎn)介紹2022/7/19

X射線測(cè)厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)前置放大器...

鍍層測(cè)厚儀的產(chǎn)品測(cè)量方法介紹2022/6/30

鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。對(duì)鍍層厚度有了明確要求。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、...

X 射線管的結(jié)構(gòu)原理介紹2022/6/17

X射線管是工作在高電壓下的真空二極管。包含有兩個(gè)電極：一個(gè)是用于發(fā)射電子的燈絲，作為陰極，另一個(gè)是用于接受電子轟擊的靶材，作為陽(yáng)極。兩極均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內(nèi)。X射線管在醫(yī)學(xué)上用于診斷和治...

X射線熒光光譜儀的物理原理介紹2022/5/30

X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光的物理原理當(dāng)材料暴露在短波長(zhǎng)X光檢查，或伽馬射線，其...

韓國(guó)ISP X射線熒光光譜儀軟件功能簡(jiǎn)介2019/5/24

iEDX-150WT型號(hào)光譜儀軟件功能1)軟件應(yīng)用-單鍍層測(cè)量-線性層測(cè)量，如：薄膜測(cè)量-雙鍍層測(cè)量-針對(duì)合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度和元素分析-三鍍層測(cè)量。-無(wú)電鍍鎳測(cè)量-吸收模式的應(yīng)用DIN50987....